[发明专利]基于高阻材料的电场传感器封装元件有效

专利信息
申请号: 201310340888.9 申请日: 2013-08-07
公开(公告)号: CN103633036A 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 夏善红;闻小龙;陈贤祥;彭春荣;杨鹏飞;方东明 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: H01L23/29 分类号: H01L23/29
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 戎志敏
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 材料 电场 传感器 封装 元件
【权利要求书】:

1.一种基于高阻材料的电场传感器封装元件,包括:

基板;

第一封装框,固定于所述基板;以及

第一封装盖,固定于所述封装框;

至少一个电场传感器芯片位于所述基板、第一封装框和第一封装盖形成的内腔内;

其中,所述基板、第一封装框第一封装盖中的至少一种是电阻率大于或等于108Ω·cm的高阻值材料。

2.根据权利要求1所述的基于高阻材料的电场传感器封装元件,其特征在于,所述高阻值材料选自于以下材料中的一种:陶瓷、蓝宝石、有机高分子聚合物或二氧化硅。

3.根据权利要求1所述的基于高阻材料的电场传感器封装元件,其特征在于,所述第一封装盖为平面结构的圆形、方形,或向基板方向弯折预设距离的圆形、方形,或朝向基板方向开口的半球形。

4.根据权利要求3所述的基于高阻材料的电场传感器封装元件,其特征在于,所述第一封装盖呈朝向基板方向开口的半球形,该半球形封装盖向外侧延长预设距离,从而覆盖住所述的封装框。

5.根据权利要求1所述的基于高阻材料的电场传感器封装元件,其特征在于,当第一封装框和第一封装盖采用相同材料时,所述第一封装框和第一封装盖为一体加工的凹形空腔。

6.根据权利要求1所述的基于高阻材料的电场传感器封装元件,其特征在于,所述第一封装盖与第一封装框对应的材料组合为:高阻值材料-高阻值材料、高阻值材料-金属材料、金属材料-高阻值材料。

7.根据权利要求1所述的基于高阻材料的电场传感器封装元件,其特征在于,所述第一封装盖在平行于所述基板的方向上向外侧延长预设距离,并向基板方向弯折。

8.根据权利要求1所述的基于高阻材料的电场传感器封装元件,其特征在于,所述第一封装盖由包括上层和下层的两种材料构成。

9.根据权利要求8所述的基于高阻材料的电场传感器封装元件,其特征在于,所述第一封装框、封装盖下层、封装盖上层对应的材料组合为:高阻值材料-高阻值材料-高阻值材料、高阻值材料-高阻值材料-金属材料、高阻值材料-金属材料-高阻值材料、高阻值材料-金属材料-金属材料、金属材料-高阻值材料-高阻值材料,或金属材料-高阻值材料-金属材料。

10.根据权利要求8所述的基于高阻材料的电场传感器封装元件,其特征在于,所述封装盖上层在平行于所述基板的方向上向外侧延长预设距离,并向基板方向弯折,封装盖下层在平行于所述基板的方向上向外侧延长预设距离,延伸的距离不大于装盖上层延长的距离。

11.根据权利要求1所述的基于高阻材料的电场传感器封装元件,其特征在于,所述第一封装框在垂直于基板的方向上向外侧延长一段距离,所述第一封装盖固定于所述封装框的中段。

12.根据权利要求11所述的基于高阻材料的电场传感器封装元件,其特征在于,所述第一封装框与第一封装盖对应的材料组合为:高阻值材料-金属材料、或高阻值材料-高阻值材料,或金属材料-高阻值材料。

13.根据权利要求11所述的基于高阻材料的电场传感器封装元件,其特征在于,所述第一封装盖由封装盖上层和封装盖下层构成,

所述封装盖下层固定于所述封装框的中段,所述封装盖上层在平行于基板的方向上向内缩减一段距离。

14.根据权利要求13所述的基于高阻材料的电场传感器封装元件,其特征在于,所述封装框、封装盖下层与封装盖上层的材料组合为:高阻值材料-高阻值材料-高阻值材料、高阻值材料-高阻值材料-金属材料、高阻值材料-金属材料-高阻值材料、高阻值材料-金属材料-金属材料、金属材料-高阻值材料-高阻值材料,或金属材料-高阻值材料-金属材料。

15.根据权利要求1所述的基于高阻材料的电场传感器封装元件,其特征在于所述第一封装框为圆形或方框性。

16.、根据权利要求1所述的基于高阻材料的电场传感器封装元件,其特征在于所述传感器芯片为两个或多个。

17.根据权利要求1所述的基于高阻材料的电场传感器封装元件,其特征在于,还包括:

第二封装框,固定于所述基板;以及

第二封装盖,固定于所述第二封装框;

其中:所述基板、第二封装框和第二封装盖构成的封装元件位于所述基板、第一封装框和第一封装盖构成的封装元件内。

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