[发明专利]实现存储器测试仪提高同测数的方法

权利要求书

1.一种实现存储器测试仪提高同测数的方法，其特征在于，包括步骤：

1)通过截取探针台与存储器测试仪之间的通讯信息，实现将探针台上的同测数信息转换为存储器测试仪所拥有的同测数信息，并发送给存储器测试仪；

截取探针台与存储器测试仪之间的通讯信息的实现方法为：重新编写存储器测试仪上与探针台的通信程序，探针台按同测扩展后的同测数据设定，并按扩展后的同测数据格式与存储器测试仪通信；通过存储器测试仪上通信程序，将应用同测所产生的增加失效号码重新按同测扩展后的同测数据格式编写，将同测扩展后的信息发送给探针台；

2)存储器测试仪采用其原有的同测数进行测试，测试时采用应用同测与系统同测相结合的方法，对实际翻倍后的同测数量的芯片进行测试；

3)采用应用同测的方法将若干个芯片假定为一个芯片进行测试；

假定的一个芯片失效时，让存储器测试仪的系统自动调用系统失效处理机制，同时在失效处理机制中，判断出当前系统失效单元资源中具体失效的测试资源，以此获得失效的实际物理芯片；

4)将实际物理芯片失效情况组合为存储器测试仪同测数信息包，在存储器测试仪与探针台通讯时，再将存储器测试仪同测数信息包拆分为探针台上同测数信息。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述步骤3)中，失效处理是根据失效的类型、失效的数量、失效的位置来决定对失效芯片的处理，并根据不同的失效芯片情况分配不同的失效号码。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述步骤3)中，失效处理的方法包括：按对系统单元剔除掉、忽略或设置相关电压来处置。