[发明专利]用于经由谱编码进行光学成像的方法和设备

权利要求书

1.一种设备，包括：

至少一个装置，其配置成将电磁辐射转送到解剖结构，并且使用所述电磁辐射连续地扫描所述解剖结构的至少一个部分的整个区域，以生成至少一个信号，其中，所述至少一个装置包括在扫描期间与所述解剖结构保持近似接触的至少一个片段。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述整个区域为所述结构的体积。

3.根据权利要求1所述的设备，进一步包括：

至少一个进一步的装置，其配置成接收所述信号，并且生成至少一个图像。

4.根据权利要求3所述的设备，其中，所述至少一个图像是邻接的，其中没有显著的间隙。

5.根据权利要求3所述的设备，其中，在所述解剖结构的表面上提供所述至少一个部分。

6.根据权利要求3所述的设备，其中，在所述解剖结构的表面之下提供所述至少一个部分。

7.根据权利要求1所述的设备，其中，所述电磁辐射包括多个波长。

8.根据权利要求1所述的设备，其中，所述电磁辐射包括随时间变化的一个或多个波长。

9.根据权利要求1所述的设备，其中，所述至少一个装置包括显微镜装置，并且其中所述显微镜装置为多光子显微镜装置或共焦显微镜装置中的至少一个。

10.根据权利要求9所述的设备，其中，所述显微镜装置包括谱编码装置。

11.根据权利要求1所述的设备，其中，所述至少一个解剖结构为内部器官。

12.根据权利要求1所述的设备，其中，所述至少一个装置经由光纤装置转送所述电磁辐射。

13.根据权利要求12所述的设备，其中，所述光纤装置包括多个电磁辐射引导装置。

14.根据权利要求1所述的设备，其中，所述至少一个信号与从所述解剖结构接收的电磁辐射的强度的至少一部分相关联。

15.根据权利要求1所述的设备，其中，在探针中提供所述至少一个装置。

16.根据权利要求1所述的设备，其中，所述至少一个装置包括至少一个光学部件，其配置成补偿至少一个光学像差。

17.根据权利要求16所述的设备，其中，所述至少一个光学部件包括弯曲表面。

18.根据权利要求17所述的设备，其中，所述至少一个光学像差为像散。

19.根据权利要求1所述的设备，进一步包括定位装置，其配置成将所述至少一个装置定位在相对于所述解剖结构的特定位置处。

20.根据权利要求1所述的设备，其中，所述至少一个装置进一步配置成将所述电磁辐射的焦点定位在所述解剖结构之内的多个深度处。

21.根据权利要求1所述的设备，进一步包括至少一个进一步的第三装置，其配置成：

生成进一步的信号；

基于所述进一步的信号，确定与所述解剖结构相关联的特定片段的至少一个位置；以及

基于所述进一步的信号，控制所述至少一个电磁辐射的焦点向所述解剖结构之内的进一步的位置的移动或定位中的至少一个。

22.根据权利要求21所述的设备，其中，所述进一步的信号为干涉测量信号、飞行时间信号或电磁辐射的强度中的至少一个。

23.一种用于对解剖结构的区域进行成像的方法，包括：

将至少一个电磁辐射转送到解剖结构；以及

使用至少一个装置，使用所述电磁辐射连续地扫描所述解剖结构的至少一个部分的整个区域，以生成至少一个信号，其中，所述至少第一装置包括在扫描期间与所述解剖结构保持近似接触的至少一个片段。