[发明专利]一种内存访问的方法、设备及系统有效
申请号: | 201310345355.X | 申请日: | 2013-08-09 |
公开(公告)号: | CN104346234B | 公开(公告)日: | 2017-09-26 |
发明(设计)人: | 单书畅;李冰;胡瑜;高翔 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司;中国科学院计算技术研究所 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10;G06F12/02 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司11274 | 代理人: | 张娜 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 内存 访问 方法 设备 系统 | ||
技术领域
本发明涉及计算机系统设计领域,尤其涉及一种内存访问的方法、设备及系统。
背景技术
随着计算机系统的存储容量规模不断增加,内存可靠性的提升对计算机系统运行的稳定至关重要,当前业界通常采用容错编码对内存的数据进行校验,以提升内存的可靠性,常见的容错编码方法包括单比特纠错-双比特检错(Single Error Correction-Double Error Detection,简称SEC-DED)方法、Chipkill(IBM公司开发的一种新的内存保护技术)方法、BCH(取自Bose、Chaudhuri与Hocquenghem的缩写)容错编码方法和MIRROR(双模镜像容错编码)方法等,特定的运行对象(例如应用程序、线程、进程、代码段等)在一定条件下访问内存时,选用合适的容错编码方法才能够使得内存满足该特定的运行对象对相应数据的正确访问,也即满足该特定的运行对象对内存可靠性的需求。现有技术的内存一般使用单一的容错编码方法,访问内存时相应也使用该内存单一的容错编码方法对数据进行校验。例如,现有技术中一种内存采用的容错编码方法是单比特纠错-双比特检错(Single Error Correction-Double Error Detection,简称SEC-DED)方法,在对应用程序的数据进行读访问的过程中,首先通过容错编码对读取的数据进行检错,只有在检出错误之后才通过纠错编码进行纠错。发明人发现现有技术中至少存在如下问题:使用的容错编码方法单一,不能满足不同的运行对象在不同条件下访问内存对内存的可靠性需求。
发明内容
本发明的实施例提供一种内存访问的方法、设备及系统,提供层次化的,灵活的内存靠性级别的设定方法,实现不同运行对象类型、不同可靠性级别的内存访问机制。
为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:
第一方面,本发明实施例提供一种内存访问方法,包括:
内存设备接收处理器发送的所述处理器的运行对象的可靠性级别信息,其中,所述可靠性级别信息包含所述运行对象的标识信息以及所述运行对象的可靠性级别对应的容错编码方法,所述运行对象的可靠性级别表示所述运行对象对内存可靠性需求的高低;
所述内存设备根据所述运行对象的可靠性级别信息建立第一映射关系和第二映射关系,其中,所述第一映射关系包含一一对应的所述运行对象的标识信息、所述运行对象的可靠性级别以及所述运行对象的数据所存储的数据区域DR;所述第二映射关系包含一一对应的所述运行对象的标识信息、所述运行对象的可靠性级别以及与所述运行对象的数据对应的容错编码所存储的可配置纠错编码区域CECR;
所述内存设备接收所述处理器发送的访问请求,所述访问请求包含所述处理器运行对象的标识信息以及所述运行对象的数据的物理地址信息和所述运行对象的容错编码的物理地址信息;
所述内存设备根据所述访问请求和所述第一映射关系对所述运行对象的数据进行访问,以及根据所述访问请求和所述第二映射关系对所述运行对象的容错编码进行访问。
在第一种可能的实现方式中,结合第一方面,所述内存设备根据所述运行对象的可靠性级别信息建立第一映射关系和第二映射关系,包括:
所述内存设备根据所述可靠性级别信息中的所述容错编码方法查询预设的所述运行对象的所述可靠性级别与容错编码方法的对应关系表,获取所述运行对象的可靠性级别;
所述内存设备根据所述运行对象的可靠性级别查询预设的可靠性级别与所述DR的对应关系表,获取与所述运行对象的可靠性级别对应的DR,并生成所述第一映射关系;
所述内存设备根据所述运行对象的可靠性级别查询预设的可靠性级别与所述CECR的对应关系表,获取与所述运行对象的可靠性级别对应的CECR,并生成所述第二映射关系。
在第二种可能的实现方式中,结合第一方面或者第一种可能的实现方式,所述内存设备接收所述处理器发送的访问请求,其中,所述访问请求包括读访问请求;相应的,
所述内存设备根据所述访问请求和所述第一映射关系对所述运行对象的数据进行访问,以及根据所述访问请求和所述第二映射关系对所述运行对象的容错编码进行访问,包括:
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