[发明专利]一种超高密度热辅助磁记录用FeRh/FePt双层薄膜及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201310349750.5 申请日: 2013-08-13
公开(公告)号: CN103440875A 公开(公告)日: 2013-12-11
发明(设计)人: 陆伟;黄平 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: G11B5/84 分类号: G11B5/84;G11B5/851
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 张磊
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 超高 密度 辅助 记录 ferh fept 双层 薄膜 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种超高密度热辅助磁记录用FeRh/FePt双层薄膜,所述薄膜第一层为铁磁性高各项异性L10有序结构的FePt合金薄膜,第二层为具有B2有序结构的FeRh合金薄膜;两层薄膜之间通过交换耦合相互作用在一起,FeRh合金薄膜中Fe、Rh原子比为1:1,FeRh薄膜厚度为10nm~50nm;FePt合金薄膜中Fe、Pt原子比为1:1,FePt薄膜厚度为10nm~50nm。

2.一种如权利要求1所述的超高密度热辅助磁记录用FeRh/FePt双层薄膜的制备方法,其特征在于具体步骤如下:

(1)利用磁控溅射技术在单晶MgO(001)基板上沉积FeRh合金薄膜,控制Fe、Rh原子比为1:1,FeRh薄膜厚度为10nm~50nm;溅射采用Fe50Rh50合金靶材,溅射时控制单晶MgO(001)基板温度为300~500℃,溅射腔的背底真空度为0.7×10-5~5×10-5Pa,溅射时氩气气压为1~20Pa;溅射过程中,单晶MgO(001)基板以5转/分钟~30转/分钟的速率旋转;

(2)溅射结束后,将单晶MgO(001)基板原位退火,退火温度为400~700℃,退火时间为0.5~2小时;

(3)退火结束后,利用磁控溅射技术继续在沉积有FeRh薄膜的单晶MgO(001)基板上沉积FePt合金薄膜,控制Fe、Pt原子比为1:1,FePt薄膜厚度为10nm~50nm;溅射采用Fe50Pt50合金靶材,其在溅射时基板温度为450~500℃;溅射腔的背底真空度为0.7×10-5~5×10-5Pa,溅射时氩气气压为1~20Pa;溅射过程中,基板以5转/分钟~30转/分钟的速率旋转。

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