[发明专利]一种超高密度热辅助磁记录用FeRh/FePt双层薄膜及其制备方法无效
申请号: | 201310349750.5 | 申请日: | 2013-08-13 |
公开(公告)号: | CN103440875A | 公开(公告)日: | 2013-12-11 |
发明(设计)人: | 陆伟;黄平 | 申请(专利权)人: | 同济大学 |
主分类号: | G11B5/84 | 分类号: | G11B5/84;G11B5/851 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 张磊 |
地址: | 200092 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 超高 密度 辅助 记录 ferh fept 双层 薄膜 及其 制备 方法 | ||
1.一种超高密度热辅助磁记录用FeRh/FePt双层薄膜,所述薄膜第一层为铁磁性高各项异性L10有序结构的FePt合金薄膜,第二层为具有B2有序结构的FeRh合金薄膜;两层薄膜之间通过交换耦合相互作用在一起,FeRh合金薄膜中Fe、Rh原子比为1:1,FeRh薄膜厚度为10nm~50nm;FePt合金薄膜中Fe、Pt原子比为1:1,FePt薄膜厚度为10nm~50nm。
2.一种如权利要求1所述的超高密度热辅助磁记录用FeRh/FePt双层薄膜的制备方法,其特征在于具体步骤如下:
(1)利用磁控溅射技术在单晶MgO(001)基板上沉积FeRh合金薄膜,控制Fe、Rh原子比为1:1,FeRh薄膜厚度为10nm~50nm;溅射采用Fe50Rh50合金靶材,溅射时控制单晶MgO(001)基板温度为300~500℃,溅射腔的背底真空度为0.7×10-5~5×10-5Pa,溅射时氩气气压为1~20Pa;溅射过程中,单晶MgO(001)基板以5转/分钟~30转/分钟的速率旋转;
(2)溅射结束后,将单晶MgO(001)基板原位退火,退火温度为400~700℃,退火时间为0.5~2小时;
(3)退火结束后,利用磁控溅射技术继续在沉积有FeRh薄膜的单晶MgO(001)基板上沉积FePt合金薄膜,控制Fe、Pt原子比为1:1,FePt薄膜厚度为10nm~50nm;溅射采用Fe50Pt50合金靶材,其在溅射时基板温度为450~500℃;溅射腔的背底真空度为0.7×10-5~5×10-5Pa,溅射时氩气气压为1~20Pa;溅射过程中,基板以5转/分钟~30转/分钟的速率旋转。
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