[发明专利]III/V半导体无效
申请号: | 201310350579.X | 申请日: | 2006-01-26 |
公开(公告)号: | CN103701032A | 公开(公告)日: | 2014-04-02 |
发明(设计)人: | B.库纳特;J.科克;S.赖恩哈德;K.沃茨;W.斯托尔茨 | 申请(专利权)人: | 马尔堡菲利普斯大学 |
主分类号: | H01S5/026 | 分类号: | H01S5/026;H01S5/323 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 汪扬 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | iii 半导体 | ||
1.一种单片集成半导体结构,包括以下层结构:
A)基于掺杂或未掺杂Si或GaP的载体层,
B)作为选择,由掺杂Si、掺杂GaP或掺杂(AlGa)P组成的第一电流传导层,
C)作为选择,第一适应层,以及
D)包含由具有成分GaxInyNaAsbPcSbd的III/V半导体形成的半导体层的光学有源元件,其中,x=70-100摩尔%,y=0-30摩尔%,a=0.5-15摩尔%,b=67.5-99.5摩尔%,c=0-39.5摩尔%和d=0-15摩尔%,其中x和y的总和始终是100摩尔%,其中a、b、c和d的总和始终是100摩尔%,并且其中一方面x和y的总和与另一方面a至d的总和之比基本上是1:1。
2.如权利要求1所述的半导体结构,包含接着层D)的以下层结构:
E)可选地,第二适应层,以及
F)由掺杂Si、掺杂GaP或掺杂(AlGa)P组成的第二电流传导层。
3.如权利要求1或2所述的半导体结构,其中:层B)是p-掺杂的或n-掺杂的。
4.如权利要求1至3其中之一所述的半导体结构,其中:y=1到30摩尔%。
5.如权利要求1至4其中之一所述的半导体结构,其中:c=1到32.0摩尔%。
6.如权利要求1至5其中之一所述的半导体结构,其中:所述半导体是直接半导体。
7.如权利要求2至6其中之一所述的半导体结构,其中:如果所述层B)是n-掺杂的,则所述层F)是p-掺杂的,以及如果所述层B)是p-掺杂的,则所述层F)是n-掺杂的。
8.如权利要求1至7其中之一所述的半导体结构,其中:所述光学有源元件具有层结构(D1-D2-D3)n,所述层D2是所述半导体的量子阱层,所述层D1和D3是势垒层,并且n=1-50,特别是1-15。
9.如权利要求8所述的半导体结构,其中:接着终端层D1或D3其中之一,提供势垒层D4。
10.如权利要求8或9所述的半导体结构,其中:所述势垒层是具有成分GapInqNrPsAst的半导体,其中p=85-100摩尔%,q=0-15摩尔%,r=0-15摩尔%,s=60-100摩尔%以及t=0-40摩尔%,其中p和q的总和始终是100摩尔%,r、s和t的总和始终是100摩尔%,其中一方面p和q的总和与另一方面r到t的总和之比基本上是1:1,并且所述势垒层具有优选5-50nm的层厚度。
11.如权利要求1至10其中之一所述的半导体结构,其中:第一和/或第二适应层是具有成分GapInqNrPsAst的半导体,其中,p=90-100摩尔%,q=0-10摩尔%,r=0-10摩尔%,s=70-100摩尔%以及t=0-30摩尔%,其中p和q的总和始终是100摩尔%,r、s和t的总和始终是100摩尔%,其中一方面p和q的总和与另一方面r到t的总和之比基本上是1:1,并且所述适应层具有优选50-500nm的层厚度。
12.如权利要求1至11其中之一所述的半导体结构,其中:布置在载体层和光学有源元件之间的电流传导层和/或势垒层同时是适应层。
13.如权利要求1至12其中之一所述的半导体结构,其中:在光学有源元件下面和/或上面,提供至少一个光学波导层,所述光学波导层光耦合到所述光学有源元件。
14.如权利要求1至13其中之一所述的半导体结构,其中:在层A)和D)之间和/或在层F)之外,提供至少一个周期性反射结构。
15.如权利要求1至14其中之一所述的半导体结构,其中:所述光学有源元件具有700到1100nm的范围内的基本发射波长。
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