[发明专利]一种多通道光成像激光电离源有效
| 申请号： | 201310350596.3 | 申请日： | 2013-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN103413748A | 公开（公告）日： | 2013-11-27 |
| 发明（设计）人： | 聂宗秀;何清;陈素明;袁景和;方晓红 | 申请（专利权）人： | 中国科学院化学研究所 |
| 主分类号： | H01J49/16 | 分类号： | H01J49/16;G01N27/64 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 关畅;王春霞 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 通道 成像 激光 电离 | ||
1.一种多通道光成像激光电离源，其特征在于：所述电离源包括光源、透光基底和光学检测系统；
所述透光基底设置在所述光学检测系统的光路上；
所述光源发出的激光经反射镜反射，得到的反射光经聚焦物镜聚焦后照射到所述透光基底上。
2.根据权利要求1所述的激光电离源，其特征在于：所述反射光照射到所述透光基底的上部，并经过样品和所述透光基底后进入设于所述透光基底下部的所述光学检测系统。
3.根据权利要求1所述的激光电离源，其特征在于：所述反射光照射到所述透明基底的下部，并经过样品和所述透光基底后进入设于所述透光基底上的所述光学检测系统。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的激光电离源，其特征在于：所述透光基底为塑料板、玻璃板、导电玻璃板或石英板；
所述透光基底设置在三维移动平台。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的激光电离源，其特征在于：所述光源为紫外脉冲激光、红外脉冲激光、可见脉冲激光、紫外连续激光、红外连续激光或可见连续激光。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的激光电离源，其特征在于：所述物镜为透射式物镜、反射式物镜或折反射式物镜。
7.根据权利要求1-6中任一项所述的激光电离源，其特征在于：所述光学检测系统为光学显微镜、共聚焦显微镜、超分辨显微镜、紫外-可见光谱仪、荧光光谱仪、红外光谱仪、拉曼光谱仪或X射线荧光光谱仪。
8.权利要求1-7中任一项所述激光电离源的使用方法，包括如下步骤：
按照下述1）-4）中任一方式将所述待测样品置于所述透光基底的表面上，然后用所述光源照射所述待测样品，所述待测样品经离子化后进入质谱仪中进行分析；
启动所述光学检测系统，对所述待测样品进行光学分析；
1）将所述待测样品放置于所述透光基底的表面；
2）在所述透光基底的表面上铺放基质，然后在所述基质上放置待测样品；
3）在所述透光基底的表面上放置待测样品，然后在所述待测样品上铺放基质；
4）将待测样品与基质混合后放置于所述透光基底的表面上。
9.根据权利要求8所述的使用方法，其特征在于：所述基质与所述待测样品的摩尔比为1～1000：1～10。
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