[发明专利]X射线检测器及其运行方法

权利要求书

1.一种X射线检测器(2)，尤其是用于成像医疗设备(2、4)的X射线检测器(2)，包括由壁(14)构建的散射辐射准直器(6)，带有规则布置的测量单元(10)的测量层(8)和分析单元(12)，其特征在于，所述散射辐射准直器(6)覆盖所述测量层(8)且定向朝向确定的焦点(18)，并且所述分析单元(12)设置为根据到达所述测量层(8)上的X射线辐射的局部强度差异确定X射线辐射源(4)相对于所述焦点(18)的焦点位置(20)。

2.根据权利要求1所述的X射线检测器(2)，其特征在于，确定各个测量单元(10)所测得的强度之间的差异以便确定所述焦点位置(20)。

3.根据权利要求1或2所述的X射线检测器(2)，其特征在于，所述散射辐射准直器(6)的壁(14)限定每个测量单元(10)的边界且因此确定有效面积。

4.根据权利要求1至3中一项所述的X射线检测器(2)，其特征在于，所述散射辐射准直器(6)具有第一类型(A)的壁和不同地构造的第二类型(B)的壁。

5.根据权利要求4所述的X射线检测器(2)，其特征在于，所述散射辐射准直器(6)主要由第一类型(A)的壁(14)构建，且零星地具有第二类型(B)的壁。

6.根据权利要求4或5所述的X射线检测器(2)，其特征在于，所述第一类型(A)的壁(14)具有基础壁厚(d)，且在与所述测量层(8)邻接的区域内具有大于基础壁厚(d)的第一基部壁厚(D)。

7.根据权利要求6所述的X射线检测器(2)，其特征在于，所述第二类型(B)的壁具有基础壁厚(d)，且在与所述测量层(8)邻接的区域内具有小于所述第一基部壁厚(D)的第二基部壁厚(d)。

8.根据权利要求7所述的X射线检测器(2)，其特征在于，所述第二基部壁厚(d)等于所述基础壁厚(d)。

9.根据权利要求4至8中一项所述的X射线检测器(2)，其特征在于，其测量信号用于确定所述焦点位置(20)的相邻的测量单元(10)通过所述第二类型(B)的壁(14)分开。

10.根据权利要求1至9中一项所述的X射线检测器(2)，其特征在于，其测量信号用于确定所述焦点位置(20)的每个测量单元(10)通过所述散射辐射准直器(6)的不同地构造的壁(14)限定边界。

11.根据权利要求1至10中一项所述的X射线检测器(2)，其特征在于，所述分析单元(12)设置为，使得根据在检查物体定位在所述X射线辐射源(4)和所述散射辐射准直器(6)之间期间所生成的测量信号确定所述焦点位置(20)。

12.一种用于运行尤其根据前述权利要求中一项所述的X射线检测器(2)的方法，所述X射线检测器包括由壁(14)构建的散射辐射准直器(6)，带有规则布置的测量单元(10)的测量层(8)和分析单元(12)，其特征在于，根据到达所述测量层(8)上的X射线辐射的局部强度差异确定X射线辐射源(4)相对于散射辐射准直器(6)所定向朝向的确定的焦点(18)的焦点位置(20)。

13.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，在检查物体定位在所述X射线辐射源(4)和所述散射辐射准直器(6)之间期间，确定到达所述测量层(8)上的X射线辐射的局部强度差异。