[发明专利]Fast approximated SIFT算法中特征点检测方法及装置无效

专利信息
申请号: 201310351358.4 申请日: 2013-08-12
公开(公告)号: CN103413326A 公开(公告)日: 2013-11-27
发明(设计)人: 石亚飞;李兴仁;林锦麟;刘春晖 申请(专利权)人: 上海盈方微电子股份有限公司
主分类号: G06T7/20 分类号: G06T7/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201203 上海市张江*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: fast approximated sift 算法 特征 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.Fast approximated SIFT算法中特征点检测方法,其特征在于:计算输入图像的积分图像;通过积分图像辅助建立DoM尺度空间;在DoM尺度空间上检测空间极值点;利用阈值法和Hessian矩阵法筛选特征点。

2.Fast approximated SIFT算法中特征点检测装置,其特征在于,包括:计算积分图像单元(S301),用于计算并存储输入图像的积分图像;建立DoM尺度空间单元(S302),用于根据所述积分图像和预先给定的不同尺度的矩形区域均值滤波核建立DoM尺度空间对应的图像金字塔;检测空间极值点单元(S303),用于在尺度空间上检测空间极值点;特征点筛选单元(S304),利用阈值法和Hessian矩阵法筛选特征点。

3.如权利要求2所述的特征点检测装置,其特征在于:所述建立DoM尺度空间单元(S302)只需要缓存图像金字塔每组尺度图像各层最后计算的三行图像数据,就可以保证后续单元不需要访问外部存储器。

4.如权利要求2所述的特征点检测装置,其特征在于:所述检测空间极值点单元(S303)和特征点筛选单元(S304)被合并在一个模块中实现,其输入数据是S302的输出数据,不需要额外的存储单元缓存数据。

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