[发明专利]加工治具、双轮廓加工系统及方法无效

专利信息
申请号: 201310351946.8 申请日: 2013-08-14
公开(公告)号: CN104369052A 公开(公告)日: 2015-02-25
发明(设计)人: 张旨光;吴新元 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: B23Q15/00 分类号: B23Q15/00;B23Q17/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 加工 双轮 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种加工治具、双轮廓加工系统及方法。

背景技术

双轮廓产品加工,要保证双轮廓所有点的偏差值一致一直是加工难题,特别是高阶曲线的双轮廓,同时也因为加工材料问题、加工刀具的磨损、加工切削液原料、加工环境等因素影响容易导致加工良率不高。

发明内容

鉴于以上内容,有必要提供一种双轮廓加工系统,其可以先加工双轮廓中的一条轮廓边,然后计算出加工该轮廓边时的偏差值,并通过所述偏差值加工另外一条轮廓边,如此一来,加工出来双轮廓所有点的偏差值可以控制在偏差阀值内。

还有必要提供一种双轮廓加工方法,其可以先加工双轮廓中的一条轮廓边,然后计算出加工该轮廓边时的偏差值,并通过所述偏差值加工另外一条轮廓边,如此一来,加工出来双轮廓所有点的偏差值可以控制在偏差阀值内。

一种双轮廓加工系统,该系统运行于主机中,该主机包括加工治具,该系统包括:获取模块,用于从主机中获取双轮廓产品的基准边的加工程序;加工模块,用于获取基准边的加工程序中理论点的坐标,通过加工治具的刀具对加工材料进行第一次加工,以得到第一次加工后基准边的第一实际加工点;计算模块,用于计算基准边的加工程序中每个理论点对应的第一实际加工点,并计算每个理论点与对应的第一实际加工点的偏移量,以修正基准边的加工程序;所述计算模块,还用于获取修正后的基准边的加工程序中理论点的坐标,通过加工治具的刀具对加工材料进行第二次加工,以得到第二次加工后基准边的第二实际加工点;修正模块,用于根据第二实际加工点计算双轮廓产品的间隙边的每个理论点的偏移量,以修正间隙边的加工程序,并根据修正后的间隙边的加工程序,对加工材料进行加工,以得到双轮廓产品。

一种双轮廓加工方法,该方法运用于主机中,该主机包括加工治具,该方法包括如下步骤:从主机中获取双轮廓产品的基准边的加工程序;获取基准边的加工程序中理论点的坐标,通过加工治具的刀具对加工材料进行第一次加工,以得到第一次加工后基准边的第一实际加工点;计算基准边的加工程序中每个理论点对应的第一实际加工点,并计算每个理论点与对应的第一实际加工点的偏移量,以修正基准边的加工程序;获取修正后的基准边的加工程序中理论点的坐标,通过加工治具的刀具对加工材料进行第二次加工,以得到第二次加工后基准边的第二实际加工点;根据第二实际加工点计算双轮廓产品的间隙边的每个理论点的偏移量,以修正间隙边的加工程序,并根据修正后的间隙边的加工程序,对加工材料进行加工,以得到双轮廓产品。

一种加工治具,安装于主机中,该加工治具包括:加工主轴、电荷耦合装置、镜头及刀具;其中,所述加工主轴内部安装有电荷耦合装置及镜头,该加工主轴底部安装有刀具,所述电荷耦合装置的像平面的轴线和所述加工主轴的轴线有交点,从而使得刀具在电荷耦合装置的像平面的中心上,以确保在对产品进行加工时,实现边检测边加工。

相较于现有技术,所述的加工治具、双轮廓加工系统及方法,其可以先加工双轮廓中的一条轮廓边,然后计算出加工该轮廓边时的偏差值,并通过所述偏差值加工另外一条轮廓边,如此一来,加工出来双轮廓所有点的偏差值可以控制在偏差阀值内。

附图说明

图1是本发明双轮廓加工系统较佳实施例的运行环境示意图。

图2是本发明双轮廓加工系统较佳实施例的功能模块图。

图3是本发明双轮廓加工方法较佳实施例的作业流程图。

图4是本发明图1中的加工治具的结构示意图。

图5是本发明较佳实施例中加工程序的示意图。

图6是本发明较佳实施例中通过由点组成一条轮廓边的示意图。

图7是本发明较佳实施例中双轮廓产品的示意图。

图8是本发明较佳实施例中CCD成像的示意图。

图9是本发明较佳实施例中每个理论点对应的实际加工点的示意图。

主要元件符号说明

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