[发明专利]内掩式透射地基日冕仪成像系统无效
申请号: | 201310353830.8 | 申请日: | 2013-08-14 |
公开(公告)号: | CN103389578A | 公开(公告)日: | 2013-11-13 |
发明(设计)人: | 马俊林;张红鑫;卢振武;卜和阳;孙明哲 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G02B27/00 | 分类号: | G02B27/00 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人: | 南小平 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 内掩式 透射 地基 日冕 成像 系统 | ||
1.内掩式透射地基日冕仪成像系统,其特征在于,包括按照太阳光入射镜筒(1)后的先后顺序安装在镜筒(1)内的光轴上的入射口径光阑(2)、物镜(3)、内掩体(4)、场镜(5)、Lyot光阑(7)、Lyot斑(6)和中继镜组(8);
所述入射口径光阑(2)位于所述物镜(3)第一表面位置,所述內掩体位于所述物镜(3)的成像焦面位置,Lyot光阑(7)位于入射孔径光阑经过物镜(3)的成像焦面位置,所述Lyot斑(6)位于场镜(5)的成像焦面位置;
太阳光束经物镜(3)聚焦后经内掩体(4)遮蔽太阳光球层的阳光,得到的光束经场镜(5)和中继镜组(8)成像在像面CCD(9)上。
2.根据权利要求1所述的内掩式透射地基日冕仪成像系统,其特征在于,所述入射口径光阑(2)面与所述Lyot光阑(7)面互为共轭面。
3.根据权利要求1所述的内掩式透射地基日冕仪成像系统,其特征在于,所述的內掩体和Lyot斑(6)在光路光轴上,遮掩太阳直射光进入光学系统和物镜(3)二次反射形成的鬼影。
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