[发明专利]一种GPS电离层TEC层析方法有效

专利信息
申请号: 201310362834.2 申请日: 2013-08-20
公开(公告)号: CN103454695A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 王新志;岳东杰;袁豹 申请(专利权)人: 河海大学
主分类号: G01V9/00 分类号: G01V9/00
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 朱小兵
地址: 211100 江*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 gps 电离层 tec 层析 方法
【权利要求书】:

1.一种GPS电离层TEC层析方法,其特征在于,具体步骤如下:

步骤1,获取GPS观测数据;

步骤2,对照GPS精密星历,利用拉格朗日插值方法内插卫星任意时刻坐标;

步骤3,探测并修复GPS周跳;

步骤4,计算GPS相位平滑伪距;

步骤5,计算电离层电子浓度总含量TEC值;

步骤6,由卫星和测站坐标,计算层析投影矩阵A,A的表达式为:

A=a11a12···a1na21a22···a2n············am1am2···amn]]>

其中,aij是第i条GPS信号沿倾斜路径穿过第j个层析网格的射线长度,i={1,2,...,m},m为测站卫星观测个数;j={1,2,...,n},n为总的网格数;

步骤7,根据TEC值和层析投影矩阵,进行电离层TEC层析,TEC层析方程为:

TEC=A·X+ξ

其中,TEC=[TEC1,TEC2,...,TECi,...,TECm]T,X=[ρ12,...,ρi,...,ρm]T,ξ=[ξ12,...ξi,...,ξm]T;TECi为第i个卫星对应的TEC值,ξi为TECi误差,ρi是第i个网格内的电子密度,[·]T为矩阵转置运算。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于河海大学,未经河海大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310362834.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top