[发明专利]一种电压检测电路

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路领域，特别涉及一种电压检测电路。

背景技术

在集成电路系统中，当从芯片外部引入的供电电压不足时，会造成芯片无法正常的工作。因此，一般会在芯片内部增加一个电压检测电路来检测供电电压并且输出相应的逻辑信号来使芯片进入相应的状态，以保障芯片正常的工作。

现有技术中的电压检测电路一般都是利用比较电路直接将供电电压与基准电压相比较，从而得出相应的逻辑信号来实现电压的检测使系统进入相应的状态。

请参考图1，其为现有的一种电压检测电路，分压电路102中供电电压VDD经电阻R1，R2分压，分压后的电压采样信号VIN被送至比较器103的同相输入端，而基准电压产生电路101产生的基准电压VREF被送至比较器103的反相输入端，然后通过比较器103比较VIN与VREF并且输出逻辑信号，之后通过锁存器104输出控制信号MRK，从而实现对供电电压的检测。

如上所述的电压检测电路，分压电阻R1、R2的比值与基准电压产生电路产生的基准电压检测值的精准度对电压检测电路检测的精准度都有很大的影响。要使该电压检测电路具有高的检测精度，需要提供具有高精准度的基准电压和高精准度的分压电阻比值。然而，即使在基准电压达到足够高的精度条件下，分压电阻的比值由于受工艺，环境温度等因素的影响从而引起的失匹配也会影响到检测电路的精准度。因此，如何解决电压检测电路的检测精准度不高这一不足，是现今本领域技术人员有待解决的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电压检测电路，以解决现有技术中电压检测电路受外界提供基准电压的精准度及分压电阻比值的匹配度的影响，致使在检测供电电压时检测的精准度不高的问题。

为解决上述技术问题，本发明提供一种电压检测电路，所述电压检测电路包括：依次连接的分压电路、隔离电路、比较电压产生电路及比较电路；

所述分压电路，用于对供电电压进行分压获取表征供电电压的样本电压;

所述隔离电路，用于接收所述样本电压产生一与所述样本电压等值的镜像电压，并且同时隔离所述分压电路中的电流流向所述比较电压产生电路;

所述比较电压产生电路，用于接收所述镜像电压，并且产生第一电压与第二电压作为两个比较电压;

所述比较电路，用于接收所述第一电压与第二电压两个比较电压，并且产生一逻辑信号。

可选的，在所述的电压检测电路中，所述分压电路包括第一电阻与第二电阻，所述第一电阻与第二电阻串联连接到供电电压与地之间，所述第一电阻与第二电阻相连处的电压为所述样本电压。

可选的，在所述的电压检测电路中，所述隔离电路为一运算放大器，其同相输入端与所述第一电阻与第二电阻相连处相连，用于接收所述样本电压，输出端连接到所述运算放大器的反相输入端，所述运算放大器输出端的电压为所述镜像电压。

可选的，在所述的电压检测电路中，所述比较电压产生电路由第一支路及第二支路并联构成，两支路并联节点一端与所述隔离电路输出端相连，另一端接地。

可选的，在所述的电压检测电路中，所述第一支路包括：一第三电阻及一第一三极管，其中，所述第三电阻的一端与所述第一三极管的集电极相连，另一端与所述运算放大器的输出端相连，所述第一三极管的基极与其集电极相连，发射极连接到地，所述第三电阻与所述第一三极管相连节点处的电压为所述第一电压；

所述第二支路包括：一第四电阻、一第五电阻及一第二三极管，其中，所述第四电阻的一端与所述运算放大器的输出端相连，另一端与所述第五电阻的一端相连，所述第五电阻的另一端与所述第二三极管的集电极相连，所述第二三极管的基极与其集电极相连，发射极连接到地，所述第四电阻与所述第五电阻相连节点处的电压为所述第二电压。

可选的，在所述的电压检测电路中，所述第一三极管和第二三极管都为NPN型三极管。

可选的，在所述的电压检测电路中，所述第二三极管的发射极面积大于所述第一三极管的发射极面积。

可选的，在所述的电压检测电路中，所述比较电路为一比较器，所述比较器的同相输入端与所述第一支路中第三电阻与第一三极管的连接处相连，用于接收所述第一电压，所述比较器的反相输入端与所述第二支路中第四电阻与第五电阻连接处相连，用于接收所述第二电压。

可选的，在所述的电压检测电路中，还包括一反相器，所述反相器与所述比较器的输出端相连，用于接受比较器产生的逻辑信号，并且产生一欠压锁定信号。

可选的，在所述的电压检测电路中，所述反相器为施密特反相器。