[发明专利]辐射测定装置以及辐射测定方法

权利要求书

1.一种辐射测定装置，其特征在于包括：

辐射检测器，检测入射的放射线；

测定处理单元，基于从上述辐射检测器输入的检测信号，测定在被拍摄体中的辐射源的分布；

光学照相机，拍摄在视野内存在的被拍摄体；

合成图像生成单元，对通过上述测定处理单元所测定的辐射源的分布和从上述光学照相机输入的光学图像进行重叠，生成合成图像；

转动单元，通过自动或者手动进行转动，改变成为放射线的测定对象的区域；以及

显示控制单元，将通过上述合成图像生成单元所生成的多个上述合成图像与上述转动单元的转动角度对应起来显示在显示装置上。

2.根据权利要求1所述的辐射测定装置，其特征在于：上述测定处理单元将入射的辐射量作为空间辐射剂量率计算。

3.根据权利要求2所述的辐射测定装置，其特征在于：

上述测定处理单元在通过经由输入单元的操作所确定的画面上的区域中，计算从该区域入射的放射线对上述空间辐射剂量率的贡献量，

上述显示控制单元将通过上述测定处理单元计算出的上述贡献量显示在上述显示装置上。

4.根据权利要求2所述的辐射测定装置，其特征在于包括：

接收机，接收用于由全球定位系统确定放射线的测定位置的信号；以及

方位检测单元，检测视野的方位，

上述测定处理单元基于通过上述接收机接收的上述信号生成确定上述辐射检测器的设置位置的位置信息，并且受理从上述方位检测单元输入的方位信息，将上述位置信息以及上述方位信息与上述设置位置上的空间辐射剂量率对应起来存储在存储单元中。

5.根据权利要求1所述的辐射测定装置，其特征在于：上述转动单元使上述屏蔽体在左右方向上转动。

6.根据权利要求5所述的辐射测定装置，其特征在于：

上述转动单元将预先设定的转动角度作为1步来进行转动，

上述测定处理单元在上述转动单元每转动1步时测定辐射源的分布，

上述光学照相机在上述转动单元每次转动1步时拍摄被拍摄体。

7.根据权利要求1所述的辐射测定装置，其特征在于：上述辐射检测器是通过多个半导体元件检测放射线的半导体辐射检测器。

8.根据权利要求1所述的辐射测定装置，其特征在于：上述测定处理单元基于针孔光学系统求解放射线的入射方向。

9.根据权利要求1所述的辐射测定装置，其特征在于：上述测定处理单元计算入射的放射线的能量，测定上述辐射源的分布。

10.一种辐射测定方法，其特征在于包含：

辐射检测处理，使用辐射检测器来检测放射线；

测定处理，根据从上述辐射检测器输入的检测信号，测定在被拍摄体中的辐射源的分布；

拍摄处理，拍摄在视野内存在的被拍摄体；

合成图像生成处理，对通过上述测定处理所测定的放射线的分布和通过上述拍摄处理所取得的光学图像进行重叠，生成合成图像；

转动处理，通过自动或者手动进行转动，改变成为放射线的测定对象的区域；以及

显示控制处理，将通过上述合成图像生成处理所生成的多个上述合成图像与在上述转动处理中的转动角度对应起来显示在显示装置上。