[发明专利]一种多指标约束的分数阶PIλDμ控制器整定方法

权利要求书

1.一种多指标约束的分数阶PI^λD^μ控制器整定方法，其特征在于,包括以下步骤：

给定一个分数阶PI^λD^μ控制器以及被控对象的期望指标，所述被控对象的期望指标包括：稳定性指标、扰动衰减H_∞指标、灵敏度指标以及控制代价指标；

根据被选择的期望指标的优先级顺序，分别求出符合各期望指标的待整定参数解集；

综合各期望指标的参数解集，得到该分数阶PI^λD^μ控制器的待整定参数(k_p,k_i)的解集。

2.如权利要求1所述的多指标约束的分数阶PI^λD^μ控制器整定方法，其特征在于,最终得到的分数阶PI^λD^μ控制器的待整定参数的解集为符合所述各期望指标的待整定参数解集的并集。

3.如权利要求1所述的多指标约束的分数阶PI^λD^μ控制器整定方法，其特征在于,符合所述稳定性指标的待整定参数解集K_p,K_i通过D分割原理求得。

4.如权利要求1所述的多指标约束的分数阶PI^λD^μ控制器整定方法，其特征在于，所述扰动衰减H_∞指标表示为：

Jv=||1SλGyv(s)||∞=supω∈R|1(jω)λGyv(jω)|,]]>

其中为由v(t)到y(t)的扰动传递函数，

定义满意PI^λD^μ控制期望的扰动衰减H_∞指标为：

J_v≤γ_v,γ_v>0,

其中，γ_v为期望的扰动抑制水平。