[发明专利]一种测量稻田持水层水位深度的方法

权利要求书

1.一种测量稻田持水层水位深度的方法，其特征在于，包括以下步骤：

（1）选取多个稻田样本位点以及对应的近红外光发射点，且每个近红外光发射点距离对应稻田样本位点的深度相同；

（2）在各个近红外光发射点上分别向对应稻田样本位点发射950～1000nm的近红外光，并获取近红外光反射率；

（3）以各个稻田样本位点的近红外光反射率为输入，以对应的实测稻田样本位点持水层深度为输出，建立模型；

（4）选取距离稻田持水层水平面预定深度的实测近红外光发射点，通过该实测近红外光发射点向稻田待测位点发射950～1000nm的近红外光，并获取近红外光反射率，将所述稻田待测位点的近红外光反射率代入步骤（3）中的模型，即得稻田待测位点持水层深度。

2.如权利要求1所述的测量稻田持水层水位深度的方法，其特征在于，步骤（2）中，所述近红外光的波长为980nm。

3.如权利要求1所述的测量稻田持水层水位深度的方法，其特征在于，步骤（3）中，所述模型为Y_s＝32.95×k₂(1-1.35×v_IR)；

其中，Y_s为检测获得的水深值，v_IR为检测过程中近红外光谱的反射率，k₂为校正参数。

4.如权利要求1所述的测量稻田持水层水位深度的方法，其特征在于，步骤（1）中，所述深度为10～50mm。

5.如权利要求1所述的测量稻田持水层水位深度的方法，其特征在于，步骤（1）中，所述深度为20mm。

6.如权利要求1所述的测量稻田持水层水位深度的方法，其特征在于，所述步骤（1）中，所述稻田样本位点为70～100个。

7.如权利要求3所述的测量稻田持水位深度的方法，其特征在于，

所述校正参数k₂的确定方法为：

向稻田待测位点发射波长范围为780～950nm的宽带近红外光和波长为500～600nm的红光，获取所述宽带近红外光和红光的反射率；

根据公式获取修正系数；其中，K为修正系数，R_I为宽带近红外光的反射率，R_R为红光的反射率；

当修正系数K<0时，检测无效；

当修正系数K≥0时，检测有效，校正参数其中：BK为固定光强值，S_n为当前检测的光照强度。

8.如权利要求7所述的测量稻田持水位深度的方法，其特征在于，所述红光的波长为600nm。