[发明专利]光学式位移计及光学式位移运算方法有效
申请号: | 201310375884.4 | 申请日: | 2013-08-26 |
公开(公告)号: | CN103673888A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 千田直道;和田健一郎 | 申请(专利权)人: | 横河电机株式会社 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01B11/06 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 位移 运算 方法 | ||
1.一种光学式位移计,其具有:
光源,其照射包含多个波长的第1光;
物镜,其将前述光源照射的前述第1光向样品照射,以使得前述多个波长中的每个,在光轴上的不同位置合焦;
分离部,其对来自前述样品的反射光中通过前述物镜的第2光进行分离,而射出第3光;
光学元件,其射出使前述分离部射出的前述第3光产生色差及像散而得到的第4光;
多个检测部,其对前述光学元件射出的前述第4光进行检测;以及
运算部,其基于前述多个检测部检测出的前述第4光,对从基准面起的前述样品的高度进行运算。
2.根据权利要求1所述的光学式位移计,
前述分离部是光纤耦合器,其将前述第2光在空间上分离,作为前述第3光而射出。
3.根据权利要求1所述的光学式位移计,其具有:
第1光纤,其使前述光源照射的前述第1光从一端入射,使前述第1光从另一端射出;以及
第2光纤,其使利用前述分离部从前述第2光分离的前述第3光射出。
4.根据权利要求3所述的光学式位移计,
前述第1光纤的前述另一端配置为,相对于前述样品的表面而处于共焦点位置。
5.根据权利要求1所述的光学式位移计,
前述分离部是分光器,其将前述第2光分离为反射光和透过光,将分离的反射光作为前述第3光而射出。
6.根据权利要求1所述的光学式位移计,其具有:
第1针孔,其使前述光源照射的前述第1光从一侧入射,使前述第1光从另一侧射出;以及
第2针孔,其使前述第2光从一侧入射,将前述第2光作为前述第3光从另一侧射出。
7.根据权利要求6所述的光学式位移计,
前述第1针孔配置为,相对于前述样品的表面而处于共焦点位置。
8.根据权利要求6所述的光学式位移计,
前述第2针孔配置为,相对于前述样品的表面而处于共焦点位置。
9.根据权利要求6所述的光学式位移计,
其还具有框体,该框体将前述物镜和前述第2针孔包含在其中,
前述第1针孔设置在前述框体上。
10.根据权利要求1所述的光学式位移计,
前述光学元件是色差透镜及圆柱透镜。
11.根据权利要求1所述的光学式位移计,
前述光学元件是平行平板玻璃,其配置在前述第4光的光轴上,相对于前述第4光的光轴倾斜。
12.根据权利要求1所述的光学式位移计,
前述多个检测部由第1~第4光电二极管构成。
13.根据权利要求12所述的光学式位移计,
在前述第1~第4光电二极管检测的值分别为A1、B1、C1、D1的情况下,利用((A1+B1)-(C1+D1)/(A1+B1+C1+D1))的关系,对从前述基准面起的前述样品的高度进行运算。
14.根据权利要求12所述的光学式位移计,
前述第1~第4光电二极管配置在与前述第4光的光轴垂直的正方形的顶点上。
15.根据权利要求1所述的光学式位移计,
前述多个检测部由第1及第2光电二极管构成。
16.根据权利要求1所述的光学式位移计,
其具有存储部,该存储部将从前述基准面起的前述样品的高度、和前述多个检测部的输出信号的运算结果相关联而进行存储,
前述运算部基于前述多个检测部的输出信号的运算结果,从前述存储部中读出前述样品的高度。
17.根据权利要求1所述的光学式位移计,
其具有移动部,该移动部使前述光学式位移计相对于前述基准面平行地移动,
前述运算部在前述移动部使前述光学式位移计移动的过程中,对前述样品的高度进行运算。
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