[发明专利]盲孔深度测量装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种盲孔深度测量装置。

背景技术

工业生产的各个领域中常会使用到铆接结构，因此会在产品上开设若干与铆钉配合的铆合孔，这些铆合孔包括一具倒锥面的盲孔，其中该盲孔是与铆钉头部的锥面相配合来提供适当的接触面积，从而满足铆接强度要求。因为盲孔锥面的角度是与铆钉头部锥面角度一致，为获得良好的铆接效果，需严格控制盲孔深度，所以在加工时需精确测量盲孔的深度。

业界通常是采用光透射或反射模式来测量盲孔深度，其是通过测量由孔穴深度决定的在零阶衍射光谱内出现光强最大值和光强最小值的位置，再根据相应基准结构与照射波长范围的对照值确定所达到的孔的深度。然而，这种方法只适用于测量直孔的深度。由于盲孔形状的特殊性，其深度无法通过传统方法直接测得，因此加工盲孔时无法精确控制其深度，从而导致铆接结构良率较低，所以盲孔深度测量已成为一长期困扰业界的难题。

发明内容

针对上述技术问题，本发明的主要目的为提供一种能够快速并准确测量盲孔深度测量装置。

盲孔深度测量装置，包括支承、衬套、千分表、量杆、锥头衬套、弹簧以及触头，支承上设有沿其轴的台阶孔，台阶孔由第一大径孔、第二大径孔和位于第一大径孔及第二大径孔之间的小径孔组成，所述衬套的一端插入到所述的第一大径孔中，所述千分表的一端插入到衬套中后延伸到第一大径孔中，所述锥头衬套上设有通孔，锥头衬套的一端插入到第二大径孔中，所述量杆的一端与千分表的位于第一大径孔中的端部连接，量杆的另一端穿过小径孔后伸入到锥头衬套的通孔中，量杆位于锥头衬套通孔中的杆身上设有凸台，所述弹簧套在量杆上，弹簧的一端通过量杆上的凸台限位，弹簧的另一端通过第二大径孔和小径孔之间的台阶面限位，所述触头的一端与伸入到锥头衬套中与量杆的端部连接。

采用了上述方案，测量时，将触头的自由端按压在被测工件盲孔的上端面，量杆在弹簧力的作用下，使量杆的触头顶在盲孔的底端上，此时千分表的指针显示的读数，即为盲孔深度尺寸的偏差。

所述支承的外壁面上设有压板，该压板呈环形。通过压板，便于对测量装置进行把控。

附图说明

图1为本发明的盲孔深度测量装置结构示意图；

1为支承，1a为第一大径孔，2为衬套，3为千分表，4为量杆，4a为凸台，5为锥头衬套，6为弹簧，7为触头，8为压板。

具体实施方式

参照图1，本发明的一种盲孔深度测量装置，包括支承1、衬套2、千分表3、量杆4、锥头衬套5、弹簧6以及触头7。支承1上设有沿其轴的台阶孔，台阶孔由第一大径孔1a、第二大径孔和位于第一大径孔及第二大径孔之间的小径孔组成.所述衬套2的一端插入到所述的第一大径孔1a中，所述千分表3的一端插入到衬套2中后延伸到第一大径孔1a中。所述锥头衬套5上设有通孔，锥头衬套5的一端插入到第二大径孔中。所述量杆4的一端与千分表3的位于第一大径孔中的端部连接，量杆3的另一端穿过小径孔后伸入到锥头衬套5的通孔中，量杆4位于锥头衬套通孔中的杆身上设有凸台4a。所述弹簧6套在量杆4上，弹簧6的一端通过量杆4上的凸台4a限位，弹簧6的另一端通过第二大径孔和小径孔之间的台阶面限位。所述触头7的一端与伸入到锥头衬套中与量杆的端部连接。所述支承1的外壁面上设有压板8，该压板8呈环形。