[发明专利]一种硅锭质量的检测方法在审
| 申请号： | 201310378602.6 | 申请日： | 2013-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN104237244A | 公开（公告）日： | 2014-12-24 |
| 发明（设计）人： | 钟树敏;刘兴翀;林洪峰;赵秀生 | 申请（专利权）人： | 天威新能源控股有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 谭新民 |
| 地址： | 610000 四川省成都市双流*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 质量 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种硅锭质量的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
（a）利用红外探伤测试系统对硅块内部的杂质阴影进行探测、定位、并形成灰度图；
（b）选取阴影处的色块，利用RGB颜色显示器计算出其RGB值A；
（c）预设RGB标准值T1，其中，0≤T1≤256；
（d）将步骤（b）得到的RGB值A与步骤（c）中的标准值比较，当0≤A≤T1时，对应的硅锭为不合格产品；当T1＜A≤256时，对应的硅锭为合格产品。
2.根据权利要求1所述的一种硅锭质量的检测方法，其特征在于：在步骤（c）中设置两个RGB标准值T1、T2，且0≤T1＜T2≤256；
在步骤（d）中，将步骤（b）得到的RGB值A与步骤（c）中的标准值比较，当0≤A≤T1时，对应的硅锭为不合格产品；当T1＜A＜T2时，对应的硅锭局部不合格；当T2≤A≤256时，对应的硅锭为合格产品。
3.根据权利要求1所述的一种硅锭质量的检测方法，其特征在于：步骤（a）中所述红外探伤测试系统使用的灯光亮度与正常生产时灯光亮度相同。
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