[发明专利]在光刻装置中交换晶片的方法在审
申请号: | 201310378980.4 | 申请日: | 2008-07-11 |
公开(公告)号: | CN103456670A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | 吉多·德布尔;米歇尔·彼得·丹斯贝格;彼得·克勒伊特 | 申请(专利权)人: | 迈普尔平版印刷IP有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/67;B82Y10/00;B82Y40/00;G03F7/20 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 荷兰代*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光刻 装置 交换 晶片 方法 | ||
1.在光刻装置中交换晶片(1)的方法,其中,所述光刻装置具有在真空下操作的条件,所述方法包括:
将所述晶片(1)放置在晶片工作台(8)上的步骤,
将所述晶片工作台(8)和所述晶片(1)插入所述光刻装置的后续步骤(IT),
处理所述晶片(1)的步骤(PW),
从所述光刻装置移除所述晶片工作台(8)和所述晶片(1)的步骤(RT),
将所述晶片(1)从所述晶片工作台(8)上分离的步骤(DW),以及
为了在所述光刻装置内交换所述晶片(1)的目的,将所述晶片工作台(8)与另一个晶片工作台进行交换的步骤,以及
处理所述光刻装置外侧的所述晶片工作台(8)的步骤,其中,在该处理中,所述晶片工作台(8)的温度是可调节的。
2.根据权利要求1所述的方法,在将所述晶片(1)从所述晶片工作台(8)上分离的所述步骤(DW)之后,或者在将所述晶片(1)放置在晶片工作台(8)上的所述步骤之前,进一步包括,清洁所述晶片工作台(8)的步骤。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述晶片工作台(8)适于无紧固地包含在所述光刻装置中。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,将所述晶片(1)放置在晶片工作台(8)上的步骤包括将所述晶片(1)固定到所述晶片工作台(8)上。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,为了所述晶片(1)与所述晶片工作台(8)的相互固定的目的,在所述晶片(1)和所述晶片工作台(8)之间保持静止保持液体层(3)。
6.根据权利要求5所述的方法,包括通过打开管道密封将所述晶片(1)从所述晶片工作台(8)上分离的步骤(DW)。
7.根据权利要求5所述的方法,其中,在将所述晶片(1)放置在晶片工作台(8)上的所述步骤之前,进一步包括,将液体施加到所述晶片工作台(8)上的步骤,其中,在将所述晶片(1)放置在所述晶片工作台(8)上时所述液体被作为所述静止保持液体层(3)包含。
8.根据权利要求5所述的方法,其中,所述静止保持液体层(3)的毛细条件通过将所述晶片(1)与所述晶片工作台(8)之间的公称相互距离保持在0.1μm至10μm之间来实现。
9.根据权利要求5或8所述的方法,其中,在所述晶片工作台内包括周围密封装置,用于防止所述液体蒸发。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,所述周围密封装置由所述晶片工作台(8)和所述晶片(1)之间的周围空气间隙(9B)构成。
11.根据权利要求5所述的方法,其中,所述晶片工作台(8)配备有节(7),所述节的高度限定所述静止保持液体层(3)的厚度。
12.根据权利要求10所述的方法,其中,所述晶片工作台(8)配备有用于容纳液体的沟槽,所述沟槽具有基本上大于所述节(7)的高度的宽度,并位于所述晶片工作台(8)的晶片承载部分(2)的周围、位于由用于密封所述晶片(1)与所述晶片工作台(8)之间包含的液体的所述密封装置限定的周围内。
13.根据权利要求1所述的方法,其中,所述晶片工作台(8)配备有释放开口。
14.根据权利要求5所述的方法,其中,所述静止液体层(3)由水构成。
15.根据权利要求1所述的方法,包括使用所述光刻装置将图像或图像图案投影到所述晶片上的步骤。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造