[发明专利]测量装置和应用该测量装置的测量系统

权利要求书

1.一种测量装置，用于测量待测正六面体的体积，其特征在于：所述测量装置包括底座、定位组件、传感器模组、称重模组以及控制器，该定位组件及传感器模组固定安装于底座上，该称重模组安装在底座相对于定位组件的一侧，该控制器用于处理传感器模组和称重模组测的数据，该称重模组用于测量待测正六面体的质量，该传感器模组用于配合控制器测量待测正六面体的边长，所述传感器模组及称重模组分别与所述控制器通信连接，所述称重模组与传感器模组测得的质量与边长数据传送给控制器，从而通过所述控制器计算得出所述待测正六面体的体积。

2.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于：该定位组件包括三个定位件，每一定位件包括一滚珠，三个定位件的滚珠分别抵持于正六面体相互垂直的三个表面的中心点，该传感器模组包括三个传感器，每一传感器向对应的一定位件的滚珠射出一光线，三束光线相交于一点，该点到滚珠的距离相等。

3.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于：所述三个定位件位于等边三角形的三个顶点上。

4.如权利要求3所述的测量装置，其特征在于：所述定位件还包括支撑块，该支撑块设有容置槽，该滚珠转动安装于容置槽，且该滚珠部分凸出于该容置槽。

5.如权利要求4所述的测量装置，其特征在于：所述定位组件还包括第一定位块、第二定位块、第一锁紧件及第二锁紧件，该第一定位块固定于基板上，该第二定位块呈板状，其上开设有装配槽及锁紧孔，装配槽开设于第二定位块的一侧的中部，该锁紧孔的数量为两个，分别开设于装配槽的两侧，该第二定位块的相对于该锁紧孔的一侧设有第一抵持面，该第一定位块嵌合于第二定位块，该第一锁紧件安装于锁紧孔，并锁合于基板，以将第二定位块固定于基板上，该第二锁紧件的数量为两个，每一第二锁紧件设有第二抵持面，该第二抵持面与第一抵持面抵持接触，用于将第二定位块朝第一锁紧件方向压紧，从而将第二定位块定位于基板上。

6.如权利要求5所述的测量装置，其特征在于：该第一定位块呈锲型，该装配槽呈V型，该第一定位块嵌合于该装配槽。

7.如权利要求5所述的测量装置，其特征在于：所述传感器模组包括支柱、传感器及保护罩，该支柱的一端固定于该基板，另一端安装固定传感器，该保护罩呈中空柱状，用于遮蔽支柱及传感器，该保护罩的数量为三个，每一保护罩设有一通孔，该通孔用于通过传感器的光线。

8.一种测量系统，其特征在于：该测量系统包括终端装置、射频模组以及权利要求1至7任一项所述的测量装置，该测量装置与终端装置通过该射频模组建立数据通信连接。

9.如权利要求8所述的测量系统，其特征在于：该传感器模组与控制器通信连接，以向该控制器传递测量的距离数据；该称重模组与控制器通信连接，以向该控制器传递测量的质量数据；该控制器与显示器通信连接，以使该显示器显示出控制器输出的数据。

10.如权利要求8所述的测量系统，其特征在于：该射频模块包括天线以及标签，该标签设置在待测体上，用于作为待测体的身份识别，该天线用于将读取的标签数据以及测量数据传输给终端装置。