[发明专利]一种变温样品台及热电性能测量方法有效

专利信息
申请号: 201310389032.0 申请日: 2013-08-30
公开(公告)号: CN104422711B 公开(公告)日: 2017-03-22
发明(设计)人: 王汉夫;褚卫国 申请(专利权)人: 国家纳米科学中心
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20;G01R31/00;G01R27/08
代理公司: 北京品源专利代理有限公司11332 代理人: 胡彬
地址: 100190 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 样品 热电 性能 测量方法
【权利要求书】:

1.一种变温样品台,包括样品座、样品杆(2)、以及设于所述样品座与所述样品杆(2)之间的连接件,其特征在于:

所述样品座包括主加热器(11)、两个温差加热器、用于固定所述主加热器(11)的主加热器压块(8)、以及用于固定所述温差加热器的温差加热器压块(7)。

2.根据权利要求1所述的变温样品台,其特征在于:

所述样品座还包括基座(3)、绝缘垫板(4)、样品垫块(5)、以及样品压块(6);

所述样品垫块(5)通过第一紧固件(14)固定于所述基座(3)上;

所述绝缘垫板(4)位于所述样品垫块(5)与所述基座(3)之间;

所述样品压块(6)通过位于所述样品压块(6)两端的第二紧固件(15)与所述样品垫块(5)固定连接。

3.根据权利要求2所述的变温样品台,其特征在于:

所述温差加热器压块(7)通过位于所述温差加热器压块(7)两端的第三紧固件(16)将所述温差加热器固定于所述样品压块(6)上;

所述主加热器压块(8)通过位于所述主加热器压块(8)两端的第四紧固件(19)将所述主加热器(11)固定于所述基座(3)上。

4.根据权利要求2所述的变温样品台,其特征在于:

所述连接件包括样品座固定板(12)、通过第五紧固件(20)与所述样品座固定板(12)固定连接的样品杆固定座(13)。

5.根据权利要求4所述的变温样品台,其特征在于:

所述基座(3)的一侧边固定于所述样品座固定板(12)上。

6.根据权利要求4所述的变温样品台,其特征在于:

所述样品杆(2)的末端与所述样品杆固定座(13)固定连接,所述样品杆(2)的末端为盲端。

7.根据权利要求2所述的变温样品台,其特征在于:

所述第一紧固件(14)由螺钉、弹簧垫片、绝缘垫片(141)以及绝缘套管(142)组成。

8.根据权利要求7所述的变温样品台,其特征在于:

所述绝缘垫板(4)上设有第一通孔(17),所述基座(3)上设有第二通孔(18),所述第二通孔(18)的位置与所述第一通孔(17)的位置对应,所述第一通孔(17)和所述第二通孔(18)均用于容纳所述绝缘套管(142)。

9.一种安装有权利要求1-8任一项所述的变温样品台的双模式热电性能测量装置的热电性能测量方法,其特征在于,按如下步骤实施:

S0:将样品条(9)固定于所述变温样品台上;

S1:将所述变温样品台置于所述双模式热电性能测量装置内部的真空室(47)中;

S2:所述双模式热电性能检测装置在稳态模式或第一准稳态模式或第二准稳态模式下对样品条(9)的热电势进行测量;

S3:检测结束。

10.根据权利要求9所述的一种热电性能测量方法,其特征在于:

所述双模式热电性能检测装置处于稳态模式,所述S2步骤中的热电势的检测方法包括如下步骤:

S211:所述双模式热电性能测量装置中的第一PID控制器(28)开启所述主加热器(11),调控所述样品条(9)的平均温度直至平均温度值稳定于设定值Tave,S

所述双模式热电性能测量装置中的第二PID控制器(31)开启所述样品条(9)一端的温差加热器,调控所述样品条(9)两端的温差直至温差值稳定于设定值ΔTS

S212:当所述样品条(9)的平均温度和温差均稳定于设定值Tave,S和ΔTS时,所述双模式热电性能测量装置中的电压表测量所述样品条(9)两端的热电电压ΔUS

S213:在保持设定值Tave,S不变的情况下,所述PID控制器连续改变设定值ΔTS的大小,得到ΔTS-ΔUS数据表;

S214:所述双模式热电性能测量装置中的计算机(43)对ΔTS-ΔUS数据表中数据进行线性拟合,依据拟合直线的斜率计算出所述样品条(9)的热电势。

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