[发明专利]自动计算感应点及电容触摸屏激励电压加载时间的方法有效
申请号: | 201310391054.0 | 申请日: | 2013-08-30 |
公开(公告)号: | CN103455228B | 公开(公告)日: | 2016-10-19 |
发明(设计)人: | 向铭;朱定飞;谭岳德 | 申请(专利权)人: | 珠海中慧微电子有限公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 |
代理公司: | 广东朗乾律师事务所 44291 | 代理人: | 杨焕军 |
地址: | 519085 广东省珠*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 计算 感应 电容 触摸屏 激励 电压 加载 时间 方法 | ||
【技术领域】
本发明涉及一种自自动计算感应点及电容触摸屏激励电压加载时间的方法,该方法可广泛应用于各类电容触控芯片。
【背景技术】
目前大多数电容触控芯片都是通过检查触摸屏上的感测元件的电荷变化差值来判断其触控区域。
通常来说电容触摸面板上分布着多个感测元件,而每个感测元件都有相关联的驱动元件,这两者之间有一定的距离足以让感测元件检测到激励电压何时被施加。当用手或其他导电物体去触摸时,有一部分激励电压的电荷量就会被导电回路带走,从而使检测到的电荷量变小。
当没有触摸事件发生时,感测元件检测到的电荷耦合量,被称之为基准值(Qbase)。通过扫描哪些感测元件检测到的电荷耦合量相对于基准值(Qbase)变小了,判断为该区域有触摸发生。
由于电容屏上的每一个感测元件所需要电荷耦合的时间不一样,如果这个激励电压加载时间(T)过小,则导致部分电荷没有耦合,而基准值(Qbase)偏小,影响触摸判断。如果这个激励电压加载时间(T)过大,则导致整个触摸屏的感测点检测时间太大,影响触摸事件响应速度。
因此,当触控芯片搭配不同电容屏,或者周围环境重大改变时,需要测量计算好激励电压加载时间(T),来保证得到正确的基准值。
【发明内容】
本发明要解决的一个技术问题是提供一种高效而简单的自动计算感应点激励电压加载时间的方法。
本发明要解决的二个技术问题是提供一种高效而简单的自动计算电容触摸屏激励电压加载时间的方法。
上述第一个技术问题通过以下技术方案解决:
一种自动计算感测点的激励电压加载时间的方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)选取待测的感测点;
2)在零至激励电压加载时间最大值的范围内中查找最佳激励电压时间值的锁定区间,具体是:
201)设置时间T1,时间T2,时间T3,时间T4,时间T5,时间T中1,时间T中2,基准值K,参数t,位数w,位数R,激励电压加载时间最大值Tmax;其中,基准值K为具体预设值(为大于零的数),Tmax为自然数,Tmax的二进制形式为M位全1,M为自然数(通常≥4);
202)将Tmax赋予给T中1(T中1=Tmax);
203)R=T中1的二进制形式的位数,E=R的中间整数;定义T1和T2,T1的二进制形式为E位全为1,T2=2T1+1;以T1测试感测点得对应的电荷耦合值为Q1,以T2测试感测点得对应的电荷耦合值为Q2;
204)若Q2-Q1>基准值K,跳至205);若Q2-Q1≤基准值K,则将此时的T1值赋予给T中1,T中1=T1,跳至步骤203);
205)T3=T2,T4=2T3+1;
206)以T3测试感测点得对应的电荷耦合值为Q3,以T4测试感测点得对应的电荷耦合值为Q4;
207)若Q4-Q3>基准值K,则将此时的T4赋予给T3(T3=T4),T4=2T3+1,跳至206);若Q4-Q3≤基准值K,得锁定区间(T3′,T3],T3′=(T3-1)/2,跳至步骤3);
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