[发明专利]晶圆级摄像模组WLC自动测试插座

说明书

技术领域

本发明涉及一种芯片测试设备，特别是一种晶圆级摄像模组WLC自动测试插座。

背景技术

晶圆级摄像模组WLC系列是目前美国APTINAIMAGING公司和昆山西钛QTECH研发的一种新型CMOS芯片成像集成系统，其用于CMOS图像传感器的封装，是由硅通孔技术TSV(ThroughSilicon Via)和晶圆级摄像镜头WLO(Wafer Level Optical)WLO组装起来形成的摄像对模组。

目前由于大多数的CMOS成像模组是采用加载柔性线路板，进行SMT组装，结构上比较复杂，由于元器件较多，所实现功能没有WLC成像模组直接，可靠。相应所催生的现有模组测试插座是适用于现有摄像模组的结构，进行功能测试，一般采用ICT探针进行检测，结构复杂，容易产生开路和短路现象；稳定性较差，同时测试寿命大大降低；对现有的机构，基本采用手动测试，自动测试系统由于其机构复杂，没有完全实现；

此外，目前市场上少有的测试插座会采用SEMI-CONTACTOR探针(POGO PIN)进行检测，由于其测试点为柔性线路板，接触点上定位比较困难，可靠性上存在很大的问题，测试效率不高。

发明内容

本发明的目的在于提供一种晶圆级摄像模组WLC自动测试插座，其能与不同测试机台兼容，实现对WLC模组的自动、高效、准确的测试，且不致损伤模组和芯片，从而克服了现有技术中的不足。

为实现上述发明目的，本发明采用了如下技术方案：

一种晶圆级摄像模组WLC自动测试插座，包括底座、模组放置结构和光源单元，所述底座与PCB转接板连接，所述底座包括安装于插座保持框内的测试单元，所述测试单元包括复数根测试探针以及沿远离PCB转接板的方向依次分布的探针保持主体和探针保持板，所述模组放置结构包括放置保持框和浮动板，所述放置保持框上设有至少一模组放置槽，所述浮动板设置于模组放置槽和探针保持主体之间，所述光源单元包括置于暗箱内的LED灯板和标准图版，所述模组放置槽、连接在放置保持框上的镜头、LED灯板和标准图版沿远离PCB转接板的方向依次分布。

进一步的，所述测试探针采用半导体测试探针。

所述测试探针内设有弹簧。

本发明的工作原理在于，通过将被测试WLC模组(以下简称“测试模组”)置于该插座内，随着暗室内光源的明暗变化，该模组中的CSP芯片通过WLO镜头(即，测试镜头)对图像的采集，将光学信号输入CSP芯片中的感光区，将光学信号转成电流信号，并由测试探针将信号传输到PCB转接板，并将电流信号输入外设测试设备，在外设测试设备内将电流信号转成数字信号，重新生成图像信号；通过对适时生成的图像参数和原有的标准图像进行对比，判断是否满足设计要求。

前述测试探针采用的是半导体测试用探针(POGO PIN)，可实现信号的微衰减，确保了测试的稳定性和可靠性；

通过设置前述探针保持架，可解决操作人员和机台操作时放置测试模组精确定位问题，同时放置易操作，机台操作方便性大大增强，通过和测试机台的配合，满足产品测试达到产能要求：小时测试量高于4KPCS芯片。

与现有技术相比，本发明至少具有如下优点：

(1)该测试插座操作简单，使用方便，适用于WLC模组的测试和功能验证：

(2)该测试插座中采用定位精确的浮板结构，能有效保护测试模组和芯片的结构不被测试损坏，延长探针的使用寿命：

(3)该测试插座中上盖部分材料优选采用铝合金，其能利用高精度的CNC加成，确保了各项使用功能要求，而底座部分材料优选采用符合环保要求的TORLON4203，其亦可通过高精度的CNC加成完成，确保了各项尺寸精度要求；

(4)该测试插座可以满足10万次的IC检测寿命，且小时测试量达到3KPCS以上，并能满足配合不同厂家的机台测试要求。

附图说明

图1是本发明一较佳实施例的结构示意图；

图2是本发明一较佳实施例中底座的结构示意图；

图3是本发明一较佳实施例中模组放置结构示意图；

图4是本发明一较佳实施例中光源部分的结构示意图；

图5是本发明一较佳实施例于非测试状态下的结构示意图；

图6是本发明一较佳实施例于测试状态下的结构示意图；