[发明专利]用于曲面变形测量的彩色CCD显微云纹法

权利要求书

1.一种用于曲面变形测量的彩色CCD显微云纹法，其特征在于，包括：

制作具有一定强度和硬度的高弹性薄膜，利用标准全息光栅在所述高弹性薄膜上转移制作出高弹性的薄膜栅，将所述薄膜栅粘贴在曲面试件表面形成曲面试件栅；

单色光源照明所述曲面试件栅的表面，用配有显微镜头的彩色CCD相机采集变形前后的所述曲面试件栅的表面图像；

利用所述彩色CCD相机内靶面前方的拜耳滤光片作为参考栅，所述曲面试件栅的局部区域经显微放大后在像平面上形成的平面像作为试件栅，当该试件栅的栅距与所述参考栅的栅距相匹配时，形成彩色CCD显微云纹条纹，分别采集试件变形前后的所述显微云纹条纹的图像并进行分析得出该局部区域的变形场，当该局部区域足够小时可以作为一个测量点来看待，求得该局部区域的变形场的平均值作为该局部区域的位置点的变形值；

根据上述步骤依次逐点求得所述曲面试件的各个位置点的变形值，得出整个所述曲面试件的变形场。

2.如权利要求1所述的用于曲面变形测量的彩色CCD显微云纹法，其特征在于，所述具有一定强度和硬度的高弹性薄膜，进一步为环氧树脂膜，所述环氧树脂膜由环氧树脂胶xy-508制作而成，该环氧树脂胶xy-508的甲乙组的重量比为3:1，所述高弹性薄膜的制作模具为三层打印胶片，中间一层刻有矩形镂空。

3.如权利要求1所述的用于曲面变形测量的彩色CCD显微云纹法，其特征在于，所述参考栅的栅距，是指所述拜耳滤光片中六列拜耳滤光片单元的宽度，即等于CCD靶面中6个单元间距。

4.如权利要求1所述的用于曲面变形测量的彩色CCD显微云纹法，其特征在于，所述当该试件栅的栅距与所述参考栅的栅距相匹配的匹配条件，即

3p₂＜Mp₁＜12p₂

其中，M代表显微镜头的放大率，p₁代表试件栅的栅距，p₂代表拜耳滤光片单元宽度。

5.如权利要求1所述的用于曲面变形测量的彩色CCD显微云纹法，其特征在于，当该局部区域足够小时，由平均误差公式得出，即

Δ=1ϵ(1-sinθθ).]]>

当采用1200线/mm的标准全息光栅时，计算得到观测范围对应的圆心角必须控制在1.9度以下，即本发明的方法的使用范围是观测范围对应的圆心角为0～1.9度。