[发明专利]时序控制电路的验证系统和验证方法有效
申请号: | 201310398070.2 | 申请日: | 2013-09-04 |
公开(公告)号: | CN103472748B | 公开(公告)日: | 2017-01-18 |
发明(设计)人: | 徐卫 | 申请(专利权)人: | 上海顺久电子科技有限公司 |
主分类号: | G05B19/042 | 分类号: | G05B19/042 |
代理公司: | 北京友联知识产权代理事务所(普通合伙)11343 | 代理人: | 尚志峰,汪海屏 |
地址: | 201203 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 时序 控制电路 验证 系统 方法 | ||
1.一种时序控制电路的验证系统,包括现场可编程门阵列,用于搭建待验证的时序控制电路,其特征在于,所述现场逻辑门阵列还用于搭建IIC总线控制器,所述IIC总线控制器连接至所述时序控制电路,用于接收来自IIC总线调试接口的测试指令并对所述测试指令进行解析,将解析生成的读写操作指令发送至所述时序控制电路;
所述时序控制电路用于接收并执行所述读写操作指令;
所述验证系统还包括:所述IIC总线调试接口,连接至所述IIC总线控制器,接收输入的所述测试指令并将所述测试指令传输至所述IIC总线控制器。
2.根据权利要求1所述的时序控制电路的验证系统,其特征在于,所述时序控制电路由n个功能模块组成,所述IIC总线控制器将所述读写操作指令发送至所述时序控制电路中对应于指定功能模块地址的功能模块,以完成对所述功能模块中对应于指定寄存器地址的寄存器的配置,其中,所述n为大于等于1的整数,所述指定功能模块地址和所述指定寄存器地址是解析所述测试指令获取的。
3.根据权利要求1或2所述的时序控制电路的验证系统,其特征在于,所述IIC控制器还用于将所述读写操作指令发送至所述时序控制电路中对应于指定功能模块地址的功能模块,以读取所述功能模块中对应于指定寄存器地址的寄存器的值;
所述IIC总线调试接口还用于输出所述寄存器的值。
4.根据权利要求2所述的时序控制电路的验证系统,其特征在于,所述n个功能模块通过系统总线连接至所述IIC总线控制器。
5.根据权利要求1所述的时序控制电路的验证系统,其特征在于,还包括:
低压差分信号输入接口和低压差分信号输出接口,连接在所述IIC总线控制器与显示屏之间,通过所述低压差分信号输入接口将输入的图像数据信号传输至所述时序控制电路处理,通过所述低压差分信号输出接口将所述时序控制电路处理输出的驱动显示信号传输至所述显示屏。
6.一种时序控制电路的验证方法,其特征在于,包括:
使用现场可编程门阵列搭建待验证的时序控制电路和IIC总线控制器;
使用IIC总线调试接口接收输入的测试指令并将所述测试指令传输至所述IIC总线控制器;
通过所述IIC总线控制器对所述测试指令进行解析,生成读写操作指令,供所述时序控制电路接收并执行。
7.根据权利要求6所述的时序控制电路的验证方法,其特征在于,通过所述IIC总线控制器将所述读写操作指令发送至所述时序控制电路中对应于指定功能模块地址的功能模块,以完成对所述功能模块中对应于指定寄存器地址的寄存器的配置,
其中,所述时序控制电路由n个功能模块组成,所述n为大于等于1的整数,所述指定功能模块地址和所述指定寄存器地址是解析所述测试指令获取的。
8.根据权利要求6或7所述的时序控制电路的验证方法,其特征在于,通过所述IIC总线控制器将所述读写操作指令发送至所述时序控制电路中对应于指定功能模块地址的功能模块,以读取所述功能模块中对应于指定寄存器地址的寄存器的值;
通过所述IIC总线调试接口输出所述寄存器的值。
9.根据权利要求7所述的时序控制电路的验证方法,其特征在于,使用系统总线将所述n个功能模块连接至所述IIC总线控制器。
10.根据权利要求1所述的时序控制电路的验证方法,其特征在于,在调试时,通过所述验证电路接口中的低压差分信号输入接口将输入的图像数据信号传输至所述时序控制电路处理,通过所述验证电路接口中的微型低压差分信号输出接口将所述时序控制电路处理输出的驱动显示信号传输至显示屏。
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