[发明专利]一种高精度的谐波分析方法

权利要求书

1.一种谐波分析方法，其特征在于包括以下步骤：

（1）、等间隔采样W+2个采样点数据：{f(i),i=0,1,…,w+1}；

（2）、从采样点i=0开始应用准同步DFT公式：

ak=2Fakn=2QΣi=0Wγif(i)cos(k2πNi)bk=2Fbkn=2QΣi=0Wγif(i)sin(k2πNi),]]>分析W+1个数据获得基波信息和

（3）、从采样点i=1应用准同步DFT公式：

ak=2Fakn=2QΣi=0Wγif(i+1)cos(k2πNi)bk=2Fbkn=2QΣi=0Wγif(i+1)sin(k2πNi),,]]>

分析W+1个数据获得基波信息

（4）、应用公式：μ=Ntg-1[Fa0n(1)Fb0n(1)]-tg-1[Fa0n(0)Fb0n(0)]2π,]]>

计算信号的频率漂移μ；

（5）应用公式：ak=2QΣi=0Wγif(i)cos(kμ2πNi)bk=2QΣi=0Wγif(i)sin(kμ2πNi)]]>

，计算各次谐波的幅值和相角；

所述的等间隔采样是根据进行谐波分析的理想信号的周期T和频率f，在一个周期内采样N点，即采样频率为f_s=Nf，且N≥64；

信号频率的漂移μ，是根据相邻采样点基波相角差与理想周期内采样点数N的固定关系而获得的，信号频率的漂移μ也可用于修正基波和高次谐波的频率f₁和高次谐波的频率f_k。