[发明专利]导电触指检测方法及专用于实施该方法的检测工装

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测工装，尤其涉及一种导电触指检测方法及专用于实施该方法的检测工装。

背景技术

导电触指在高压断路器中是非常重要的导电元件，导电触指包括用于与导电杆导电接触的内壁面和远离内壁面的外壁面，内壁面为圆弧形的内圆弧面、外壁面为圆弧形的外圆弧面，还包括连接于内壁面和外壁面之间的两个侧面，为了保证相邻导电触指能够自由转动，两个侧面的交线不通过内圆弧面和外圆弧面的圆心，为了保证导电触指与导电杆的良好的接触导电，一般导电触指在使用前均需要检测导电触指的内圆弧面及外圆弧面到圆弧中心线的距离，但是圆弧中心线是空间位置，定位及测量非常困难，因此一般采用三坐标测量以进行检测，但是由于导电触指的检测非常频繁，并且三坐标测量仪造价昂贵，维护成本高，因此采用三坐标测量仪不仅需要占用三坐标测量仪大量时间，而且提高了检测成本。

发明内容

本发明的目的是提出一种操作简单的导电触指检测方法。本发明还提供一种结构简单、成本低的专用于实施上述检测方法的检测工装。

为解决上述问题，本发明中导电触指检测方法采用的技术方案是：

一种导电触指检测方法，包括以下步骤，

1）设定存在一个定位基准面，所述定位基准面使被检测的导电触指的两个侧面对称分布于所述定位基准面的两侧，且被检测的导电触指的两个侧面的交线位于该定位基准面上；

2）配合放置一个具有两个槽壁的夹角与被检测的导电触指的两个侧面之间的夹角相等基准凹槽的基准板，使基准凹槽的两个槽壁对称分布于所述定位基准面的两侧且使两个槽壁的交线位于所述定位基准面上，使基准凹槽的两个槽壁与被检测的导电触指的对应侧面平行设置，使基准凹槽的槽底设置的凸起的顶点位于所述定位基准面上并使所述凸起的顶点到基准凹槽两个槽壁的交线之间的距离与被检测的导电触指的内圆弧面的半径相等，使基准凹槽的槽底的凸起的顶点与被检测导电触指的内圆弧面接触；

3）检测被检测的导电触指的两个侧面与基准板的对应槽壁之间的间隙，当间隙为设定间隙时，则表示被检测的导电触指合格，否则被检测的导电触指不合格。

在步骤3）中采用具有厚度不相等的大端和小端的长方形板测量间隙，所述大端的厚度为设定间隙的所允许的最大值，所述小端的厚度为设定间隙的所允许的最小值。

所述凸起为用于与被检测的导电触指的内圆弧面点接触的圆弧形凸起。

本发明中专用于实施上述检测方法的检测工装采用的技术方案是：

专用于实施上述检测方法的检测工装，包括用于定位被检测导电触指的定位结构，所述定位结构具有设定的定位基准面，所述定位基准面用于使被检测的导电触指的两个侧面对称分布于所述定位基准面两侧且用于使被检测的导电触指的两个侧面的交线位于所述定位基准面上，还包括与所述定位结构配合设置的基准板，所述基准板上开设有基准凹槽，所述基准凹槽的两个槽壁具有用于与被检测的导电触指两个侧面之间的夹角相等的夹角，所述基准凹槽两个槽壁对称分布于所述定位基准面的两侧且两个槽壁的交线位于所述定位基准面上，所述基准凹槽的两个槽壁用于与被检测导电触指对应侧面平行设置，所述基准凹槽的槽底设置有凸出槽底表面的凸起，所述凸起的顶点位于所述定位基准面上，所述凸起的顶点到所述基准凹槽两个槽壁的交线的距离与被检测的标准导电触指的内圆弧面的半径相等，所述基准凹槽两侧的槽壁与被检测的标准导电触指的对应侧面之间在所述凸起的顶点与被检测的标准导电触指的内圆弧面接触时具有设定间隙。

还包括基座，所述定位结构为所述基座上开设的定位凹槽，所述定位凹槽具有支撑被检测导电触指的定位槽底和分别与被检测的导电触指两个侧面对应吻合配合的侧槽壁，两个侧槽壁之间的夹角与所述基准凹槽的两个槽壁之间的夹角相等。

所述凸起为用于与被检测的导电触指的内圆弧面点接触的圆弧形凸起。

所述基准板滑动装配于所述基座上，还包括用于对基准板施加使其朝向顶压所述定位凹槽内的被检测的导电触指的内圆弧面运动的作用力的驱动结构，还包括用于导向基准板在驱动结构的作用力下沿直线运动的导向结构。

所述驱动结构为所述基座内设置的弹簧，所述弹簧导向缠绕在所述基座上设置的沿基准板运动方向延伸的弹簧导向螺钉上，所述弹簧一端顶压在弹簧导向螺钉头部与杆部连接一侧的端面上、另一端顶压在基准板远离基准凹槽一侧的侧面上；所述导向结构为所述基准板上开设的直线导槽及基座上设置的端部穿装在直线导槽中沿直线导槽导向移动的挡销。