[发明专利]一种SPR仪探测单元无效

专利信息
申请号: 201310406487.9 申请日: 2013-09-09
公开(公告)号: CN103454254A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 胡军;缪鹏;陈名利 申请(专利权)人: 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
主分类号: G01N21/55 分类号: G01N21/55
代理公司: 北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11369 代理人: 张红玉
地址: 215163 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 spr 探测 单元
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种SPR仪探测单元,具体为一种应用于SPR仪上的新型探测单元。

背景技术

表面等离子共振技术(Surface Plasmon Resonance technology,SPR)是20世纪90年代发展起来的,应用SPR原理检测生物传感芯片上配位体与分析物作用的一种新技术。目前市面上所采用的SPR仪多采用单色LED光源,由于其只能放射单一波长的窄带光源,因此在探测过程中需要不断对光线入射角度进行调整,加大了探测时间,降低了仪器的探测效率,同时需要添加调节装置,在一定程度上增加了制作成本。

发明内容

针对目前市面上所用SPR仪需不断对光线入射角度进行调整的缺点,本发明提供了一种SPR仪探测单元,包括光源、棱镜1、图像传感器2与数据处理分析系统3,其特征在于,所述光源采用多色窄带LED光源4,且所述多色窄带LED光源4位于所述棱镜1一侧,所述图像传感器2位于所述棱镜1另一侧,且所述图像传感器2电连接所述数据分析系统3,其中所述多色窄带LED光源4固定安装于所述SPR仪内。

优选的是,所述的一种SPR仪探测单元,其中所述多色窄带LED光源4采用带有两种或两种以上不同颜色的LED点阵。

优选的是,所述的一种SPR仪探测单元,其中所述多色窄带LED光源4照射光波长范围为300nm-950nm。

优选的是,所述的一种SPR仪探测单元,其中所述多色窄带LED光源4功率为1mw-500mw。

优选的是,所述的一种SPR仪探测单元,其中所述棱镜1横截面为等腰三角形。

优选的是,所述的一种SPR仪探测单元,其中所述多色窄带LED光源4的照射光光路上设有准直光透镜和偏正片。

优选的是,所述的一种SPR仪探测单元,其中所述图像传感器2位于所述多色窄带LED光源4照射光的反射光光路上。

优选的是,所述的一种SPR仪探测单元,其中所述棱镜1与所述图像传感器2间设有取景透镜。

本发明提供的一种SPR仪探测单元,通过引入多色窄带LED光源4,并采用固定角度的机械设计,提供了一种无需光束整形光学元件的简单设计,能够达到激光光源的效果,并消除激光散斑影响,高质量的图像,此外通过软件拟合信号,可以得到基于波长调制法的表面等离子共振信号,同时本发明中多色窄带LED光源4采用固定角度设计。省去了仪器中调制角度的装置,简化了设备,降低了成本,提高了仪器的稳定性和可靠性。

附图说明

图1为本发明提出的一种SPR仪探测单元的结构框图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明做进一步的详细说明,以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。

请参照图1,本发明提供了一种SPR仪探测单元,包括光源、棱镜1、图像传感器2与数据处理分析系统3,其特征在于,所述光源采用多色窄带LED光源4,且所述多色窄带LED光源4位于所述棱镜1一侧,所述图像传感器2位于所述棱镜1另一侧,且所述图像传感器2电连接所述数据分析系统3,其中所述多色窄带LED光源4固定安装于所述SPR仪内。

本发明中,

多色窄带LED光源4采用带有两种或两种以上不同颜色的LED点阵,其照射光波长范围为300nm-950nm,功率为1mw-500mw。

棱镜1横截面为等腰三角形。

多色窄带LED光源4的照射光光路上设有准直光透镜和偏正片,其透过棱镜的反射光光路上设图像传感器2,且棱镜1与图像传感器2之间设取景透镜。

本发明提供的一种SPR仪探测单元,棱镜1顶端上方耦合连接探测芯片,该探测芯片表面镀有金属反射膜,且在探测芯片上方设有样品池。

SPR仪工作前先将多色窄带LED光源4、图像传感器2、数据分析系统3通电,检测各部件是否能正常工作,而后将微量样品滴入样品池,多色窄带LED光源4发出的入射光透过棱镜1一侧,照射到棱镜1底部的金属反射膜与待测物上,当入射光在棱镜1与金属膜表面上发生全反射现象时,会形成消逝波,而待测物中又存在一定的等离子波,两波相遇时可能发生共振,且发生共振时反射光光强会大幅度地减弱,减弱的反射光透过棱镜1另一侧被图像传感器2接收并转换为数字信号传输至数据分析系统3,数据分析系统3得出反射光光强的响应曲线。人们根据从反射光光强的响应曲线中得到的共振波长及共振角,推导出待测物的折射率,从而分析处待测物的成分。

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