[发明专利]零或超低DC电流消耗的电源开启和欠压检测器有效
申请号: | 201310407414.1 | 申请日: | 2013-09-09 |
公开(公告)号: | CN103684374A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 张俊谋;庆健 | 申请(专利权)人: | NXP股份有限公司 |
主分类号: | H03K17/22 | 分类号: | H03K17/22 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 杨静 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | dc 电流 消耗 电源 开启 检测器 | ||
1.一种用于电源的电源开启和欠压检测器,包括:
电源开启检测模块,连接到电源并配置为响应于电源的电压增加来产生电源开启信号;
欠压检测模块,连接到电源并配置为响应于电源的电压充电和随后的电源电压降低来产生欠压信号;以及
逻辑模块,配置为响应于电源开启信号和欠压信号来产生控制信号,其中所述电源开启检测模块还配置为被所述控制信号激活或去激活。
2.根据权利要求1所述的电源开启和欠压检测器,其中,所述电源开启检测模块包括:
开关,连接到电源,
分压器,连接到开关并配置为产生输出分压,以及
触发器电路,配置为响应于所述输出分压来产生电源开启信号;其中所述欠压检测模块包括:
充电器电路,连接到电源并配置为被电源充电到充电电压,
反转器电路,连接到充电器电路并配置为响应于所述充电电压来产生反转的输出电压,以及
电压比较器,配置为响应于所述反转的输出电压产生欠压信号,以及
其中所述开关配置为通过所述控制信号来接通或断开。
3.根据权利要求2所述的电源开启和欠压检测器,其中所述分压器还配置为如果接通开关,则产生所述输出分压。
4.根据权利要求2所述的电源开启和欠压检测器,其中所述分压器包括第一电阻器和第二电阻器,其中所述第一电阻器连接到开关和触发器电路,其中所述第二电阻器连接到触发器电路和具有固定电压的电压端子。
5.根据权利要求2所述的电源开启和欠压检测器,其中所述开关包括晶体管,其中将所述控制信号输入到所述晶体管的栅极端子。
6.根据权利要求2所述的电源开启和欠压检测器,其中所述触发器电路还配置为响应于所述输出分压和电源开启电压阈值来产生电源开启信号,所述触发器电路还配置为如果所述输出分压高于电源开启电压阈值,则产生逻辑高电平的电源开启信号。
7.根据权利要求2所述的电源开启和欠压检测器,其中所述触发器电路包括施密特触发器。
8.根据权利要求2所述的电源开启和欠压检测器,其中所述逻辑模块包括RS锁存器或JK触发器。
9.根据权利要求2所述的电源开启和欠压检测器,其中所述充电器电路包括串联在电源和具有固定电压的电压端子之间的电容器和连接成二极管的晶体管。
10.根据权利要求9所述的电源开启和欠压检测器,其中所述反转器电路包括串联在所述电源和所述电压端子之间的多个晶体管。
11.根据权利要求10所述的电源开启和欠压检测器,其中所述多个晶体管和所述连接成二极管的晶体管中的至少一个是长沟道器件。
12.根据权利要求10所述的电源开启和欠压检测器,其中多个晶体管中的至少一个是连接成二极管的晶体管。
13.根据权利要求2所述的电源开启和欠压检测器,其中所述电压比较器包括连接到所述电源的第一晶体管,以及连接到所述第一晶体管和具有固定电压的电压端子的电阻器式分压器。
14.根据权利要求13所述的电源开启和欠压检测器,其中所述电压比较器还包括由第二晶体管和电阻器构成的放电路径。
15.一种用于电源的电源开启和欠压检测器,包括:
电源开启检测模块,包括:
第一晶体管,连接到电源;
第一电阻器和第二电阻器,连接到所述第一晶体管并配置为产生输出分压,和
施密特触发器,配置为响应于所述输出分压和电源开启电压阈值来产生电源开启信号;
欠压检测模块,包括:
串联在所述电源和具有固定电压的电压端子之间的电容器和连接成二极管的晶体管;
串联在所述电源和所述电压端子之间的多个晶体管,配置为产生反转的输出电压,和
电压比较器,配置为响应于反转的输出电压和欠压电压阈值来产生欠压信号,其中所述电压比较器包括连接到所述电源的第二晶体管以及连接到所述第二晶体管和所述电压端子的电阻器式分压器;以及
RS锁存器,配置为响应于电源开启信号和欠压信号来产生控制信号,其中所述第一晶体管配置为由所述控制信号来导通或截止所述第一晶体管。
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