[发明专利]一种泡沫硅反射镜及其制备方法有效
申请号: | 201310412181.4 | 申请日: | 2013-09-11 |
公开(公告)号: | CN103728682B | 公开(公告)日: | 2017-02-01 |
发明(设计)人: | 陈照峰;聂丽丽 | 申请(专利权)人: | 太仓派欧技术咨询服务有限公司 |
主分类号: | G02B5/08 | 分类号: | G02B5/08;G02B1/10 |
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地址: | 215400 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 泡沫 反射 及其 制备 方法 | ||
1.一种泡沫硅反射镜,其特征在于包括泡沫硅胚体和附着在胚体表面的致密Si涂层。
2.根据权利要求1所述的反射镜,其特征在于所述的泡沫硅胚体是一种以碳泡沫为基底,表面附着有Si薄膜的开孔泡沫。
3.根据权利要求2所述的泡沫硅胚体,其特征在于所述的Si薄膜的厚度为50nm~2μm。
4.根据权利要求1所述的反射镜,其特征在于所述的泡沫硅胚体内部呈现三维网状结构,具有大的比表面积,可填充固、液、气态的多种物质。
5.根据权利要求1所述的反射镜,其特征在于所述的Si涂层成致密结构,附着在泡沫硅胚体的表面,厚度为0.5~3mm。
6.根据权利要求1所述的反射镜,其特征在于反射镜的镜面可以是平面的,也可以是曲面的。
7.一种泡沫硅反射镜的制备方法,其特征在于包括下述顺序的步骤:
(1)将聚氨酯泡沫热解,制作碳泡沫;
(2)将制得的碳泡沫加工一面或多面成需要的镜面结构;
(3)制备Si薄膜:将加工过的碳泡沫放入CVI炉中,通入SiCl4和H2,控制温度和时间,在开孔泡沫内壁附着一定厚度的Si薄膜,最终得到泡沫硅;
(4)表面Si涂层的制备:从CVI炉中取出泡沫硅,放入硅化炉中,通入H2和SiCl4,SiCl4在1100~1300℃下高温分解出Si,分解出的Si晶粒沉积在泡沫硅表面,沉积时间为4~20小时,最终在泡沫硅表面附着一层致密的Si涂层;
(5)将表面附着有致密涂层的泡沫硅从硅化炉中取出,用金刚石精加工成所需要的镜面,最终得到一种泡沫硅发射镜。
8.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于所述的碳泡沫是通过聚氨酯泡沫加热碳化得到,具体的工艺过程分两步进行:先在空气中、200~255℃下将聚氨酯泡沫加热;接着在惰性气氛中、700~900℃下碳化。
9.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于所述的Si薄膜是通过CVI的方法获得。
10.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于所述的Si涂层是通过CVD的方法获得,沉积温度为1100~1300℃,时间为4~20小时。
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