[发明专利]一种基于对数检波器的窄脉冲包络参数测量系统有效

专利信息
申请号: 201310412714.9 申请日: 2013-09-11
公开(公告)号: CN103487667A 公开(公告)日: 2014-01-01
发明(设计)人: 李金山;李强;冷朋 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01R29/02 分类号: G01R29/02
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人: 陈海滨
地址: 266555 山东省*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 对数 检波器 脉冲 包络 参数 测量 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种基于对数检波器的窄脉冲包络参数测量系统。

背景技术

雷达、制导、无线通信等领域的信号传输方式,多是脉冲调制。特别是在现代雷达和卫星通信中,为了提高信号覆盖范围,需要提高脉冲调制的峰值功率,减小脉冲调制的脉冲宽度。对窄脉冲调制参数的准确测量,可以确定发射设备的有效载荷和分析脉冲调制信号的信号质量。

目前对于脉冲调制包络的测试,主要是通过宽带脉冲功率探头+脉冲功率计主机的方式实现。宽带脉冲功率探头的核心器件是低势垒的肖特基二极管,将肖特基二极管和电容、电阻等匹配网络集成到GaAs衬底上,封装在密闭的腔体内部,构建宽带检波电路。检波信号输出后经过探头的线性或者对数放大,经电缆送至脉冲功率计主机,在功率计主机内部进行A/D采样后,将采样的脉冲包络波形显示出来,实现各种脉冲参数的分析和测量。但其存在宽带脉冲功率探头结构复杂,装备工艺复杂、结构要求严格,封装要求严密,成本造价高,在100MHz带宽下,该方式可测的最小脉冲宽度可达10ns,仅能达到-35dBm,灵敏度非常低。

因此,现有技术有待于更进一步的改进和发展。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种基于对数检波器的窄脉冲包络参数测量系统,以提高其拓展空间,获取准确的脉冲包络参数测量值。

为解决上述技术问题,本发明技术方案包括:

一种基于对数检波器的窄脉冲包络参数测量系统,其包括衰减器,其中,所述衰减器通过一五十欧匹配线与一对数检波器相连接,所述对数检波器的数据输出端通过一宽带差分线性运算放大电路与第一模数转换器相连接;所述对数检波器的温度输出端通过一低噪声运算放大器与第二模数转换器相连接。

所述的窄脉冲包络参数测量系统,其中,所述五十欧匹配线接入一用于控制驻波比的端口驻波匹配器。

所述的窄脉冲包络参数测量系统,其中,所述宽带差分线性运算放大电路包括依次串联的第一宽带差分线性运算放大器、第二宽带差分线性运算放大器与第三宽带差分线性运算放大器,所述第二宽带差分线性运算放大器与所述第三宽带差分线性运算放大器之间设置有宽带控制器,所述第三宽带差分线性运算放大器与所述第一模数转换器相连接。

所述的窄脉冲包络参数测量系统,其中,所述第二宽带差分线性运算放大器接入一用于控制零点偏执的加法运算电路。

所述的窄脉冲包络参数测量系统,其中,所述加法运算电路包括数模转换器,所述数模转换器上连接有第一单端运算放大器与第二单端运算放大器,所述第一单端运算放大器与所述第二单端运算放大器为并联,设置有所述第一单端运算放大器的第一支路两端分别连接在所述第二宽带差分线性运算放大器的两端,设置有所述第二单端运算放大器的第二支路两端分别连接在所述第二宽带差分线性运算放大器的两端,所述第一支路与所述第二支路上均设置有对应电阻。

本发明提供的一种基于对数检波器的窄脉冲包络参数测量系统,采用衰减器、对数检波器、宽带差分线性运算放大电路、第一模数转换器、低噪声运算放大器与第二模数转换器的技术手段,信号经过对数检波器输出后,经过宽带差分线性运算放大电路送至第一模数转换器进行转换,转换后的数据送进行高速的数据处理,同时兼顾了通道带宽和通道的功率测量灵敏度,并且本发明结构简单,所有电路均在印制板上设计,无需复杂的工艺,成本较低;同样在100MHz带宽下,该其脉冲功率灵敏度要高,可达到-40dBm;而且本发明可扩展性强,可以设计成一台独立的窄脉冲包络测量仪器,也可以作为其他设备内部的窄脉冲包络测量单元。

附图说明

图1为本发明中窄脉冲包络参数测量系统的结构示意图;

图2为本发明中对数检波器输入、输出功率与线性误差的示意图。

具体实施方式

本发明提供了一种基于对数检波器的窄脉冲包络参数测量系统,为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确,以下对本发明进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所,未经中国电子科技集团公司第四十一研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310412714.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top