[发明专利]用于强流电子束能量沉积深度测量的薄片阵列式量热计有效
申请号: | 201310415491.1 | 申请日: | 2013-09-12 |
公开(公告)号: | CN103616092A | 公开(公告)日: | 2014-03-05 |
发明(设计)人: | 孙江;杨海亮;孙剑锋;来定国;苏兆峰;张鹏飞 | 申请(专利权)人: | 西北核技术研究所 |
主分类号: | G01K17/00 | 分类号: | G01K17/00;G01T1/29 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 王少文 |
地址: | 71002*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 流电 能量 沉积 深度 测量 薄片 阵列 式量热计 | ||
1.用于强流电子束能量沉积深度测量的薄片阵列式量热计,包括依次设置在电子束入射轴线上的准直单元、吸热单元和量热单元;其特征在于:
所述准直单元为石墨准直孔;所述石墨准直孔的内径略大于电子束直径;
所述吸热单元包括多层吸热薄片、设置在两相邻石墨烯薄片之间的聚四氟乙烯环;所述多层薄片中的第一层吸热薄片为圆形薄片,其余吸热薄片为环形薄片;所述环形薄片的内径依次增大;
所述量热单元包括壳体、透红外窗、红外相机和计算机;所述壳体的一端密封固定在吸热单元的末端,其另一端与透红外窗密封连接;所述第一层吸热薄片、壳体和红外透窗构成真空腔体;
所述红外相机设置在透红外窗的后方,所述红外相机和计算机相连。
2.根据权利要求1所述的用于强流电子束能量沉积深度测量的薄片阵列式量热计,其特征在于:所述吸热薄片为石墨材料或石墨烯材料。
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