[发明专利]气体颗粒物测量装置无效
申请号: | 201310418060.0 | 申请日: | 2013-09-04 |
公开(公告)号: | CN104422643A | 公开(公告)日: | 2015-03-18 |
发明(设计)人: | 张卿 | 申请(专利权)人: | 张卿 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100091 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 气体 颗粒 测量 装置 | ||
1.一种气体颗粒物浓度测量装置,由带有通气孔的滤膜基座、反光滤膜、吸光滤膜、抽气泵及流量测量装置、光源、光电探测及数据处理装置构成,其特征为:反光滤膜和吸光滤膜盖紧在滤膜基座的通气孔上,滤膜基座的通气孔和抽气泵及流量测量装置相连,光源发出的光能够照射到反光滤膜和吸光滤膜上,光电探测及数据处理装置能够探测反光滤膜和吸光滤膜反射的光强度值并进行数据处理。
2.根据权利要求1所述反光滤膜,其特征为:对特定波长反射率大于90%的滤膜。
3.根据权利要求1所述吸光滤膜,其特征为:对特定波长反射率小于10%的滤膜。
4.根据权利要求1所述反光滤膜和吸光滤膜,其特征为:反光滤膜和吸光滤膜为各自独立的滤膜,两种滤膜对气流的阻力比值为定值。
5.根据权利要求1所述反光滤膜和吸光滤膜,其特征为:反光滤膜和吸光滤膜为同一滤膜的不同部分,且两部分对气流的阻力比为定值。
6.根据权利要求1所述滤膜基座,其特征为:反光滤膜和吸光滤膜覆盖的通气孔为两个或两个以上的孔且气路相通。
7.根据权利要求1所述滤膜基座,其特征为:反光滤膜和吸光滤膜覆盖的通气孔为一个孔。
8.根据权利要求1所述抽气泵及流量测量装置,其特征为:能够对滤膜基座的通气孔进行抽气并且能够测量出流经反光滤膜和吸光滤膜的气体体积。
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