[发明专利]试样分析装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种用耗材进行分析的试样分析装置。

背景技术

人们已经知道有一种分析装置将无规则地收纳的多个移液管吸头和反应杯等耗材排成一列并将其逐一供应到一定位置，然后用这些耗材进行分析。

日本公开专利申请（Japanese Laid-Open Patent Application）No.2003-83999号和日本公开专利申请（Japanese Laid-Open Patent Application）No.2007-240466中公开了一种具有移液管吸头供应单元和反应杯供应单元的自动分析装置。日本公开专利申请（Japanese Laid-Open Patent Application）No.2007-240466中记述了一种反应杯区分构件部分，它将一定量的反应杯逐一区分，并将区分后的反应杯移送到一定位置。上述移液管吸头和反应杯从不同的放入口补充到分析装置中。

发明内容

本发明的范围只由后附权利要求所规定，在任何程度上都不受这一节发明内容的陈述所限。

因此，本发明提供：

（1）一种试样分析装置，该试样分析装置具有：用第一耗材和形状不同于第一耗材的第二耗材测定试样的测定构件部分、用于放入第一耗材的第一放入口、将从所述第一放入口放入的第一耗材供应给所述测定构件部分的供应部件、区分从所述第一放入口放入的第一耗材和从所述第一放入口放入的第二耗材的区分部件、用于收纳所述区分部件区分的第二耗材的收纳部件。

（2）根据（1）所述的试样分析装置，还具有：将所述区分部件区分的第二耗材引导至所述收纳部件的引导部件。

（3）根据（2）所述的试样分析装置，其中：所述引导部件使所述区分部件区分的第二耗材滑落并将其引导至所述收纳部件中。

（4）根据（1）所述的试样分析装置，其中：所述测定构件部分具有分装液体的液体分装构件和测定试样的检测部件。

（5）根据（1）所述的试样分析装置，还具有：用于放入所述第二耗材的第二放入口。

（6）根据（5）所述的试样分析装置，其中：所述第一放入口和所述第二放入口相邻配置。

（7）根据（1）所述的试样分析装置，其中：所述区分部件在所述供应部件供应第一耗材的供应路径上区分第一耗材和第二耗材。

（8）根据（7）所述的试样分析装置，其中：所述区分部件具有让所述第二耗材通过但不让所述第一耗材通过的间隙。

（9）根据（8）所述的试样分析装置，其中：所述供应部件有与第一耗材啮合并逐一移送第一耗材的一对移送轨，所述间隙为所述一对移送轨之间的空间。

（10）根据（9）所述的试样分析装置，其中：所述一对移送轨之间设有小于第一耗材的最大直径且大于第二耗材的最大直径的间隙。

（11）根据（2）所述的试样分析装置，其中：所述区分部件移送所述第一耗材并且使小于所述第一耗材的第二耗材下落，所述引导部件将从所述区分部件下落的第二耗材引导至所述收纳部件。

（12）根据（1）所述的试样分析装置，还具有：用于检测出所述区分部件区分的所述第二耗材的检出部件。

（13）根据（12）所述的试样分析装置，还具有：用于通知所述检出部件的检出结果的通知部件。

（14）根据（12）所述的试样分析装置，还具有：在所述检出部件检测出所述第二耗材时接受用于停止所述供应部件的供应作业的指示输入的接受部件。

（15）根据（12）所述的试样分析装置，还具有：在所述检出部件检测出所述第二耗材时，使所述供应部件的供应作业自动停止的控制部件。

（16）根据（15）所述的试样分析装置，其中：所述供应部件在停止供应作业时将已经移送到一定位置的第一耗材供应给所述测定构件部分。

（17）根据（1）所述的试样分析装置，其中：所述收纳部件设置在装置内部，且所述收纳部件能够取出至装置外部。

（18）根据（1）所述的试样分析装置，其中：第一耗材是用于制备测定试样的反应杯，第二耗材是安装在吸嘴前端的移液管吸头。

（19）根据（1）所述的试样分析装置，其中：所述供应部件还具有储存从所述第一放入口放入的第一耗材的储存部件。

（20）根据（19）所述的试样分析装置，其中：所述区分部件在所述储存部件下游的第一耗材的供应路径上区分第一耗材和第二耗材。