[发明专利]一种电子装备等效辐射功率测试的模糊方法及设备

权利要求书

1.一种电子装备等效辐射功率测试的设备，其特征在于：包括：标准天线、信号衰减器、场强仪、数据存储及分析装置，所述标准天线通过数据传输线缆与信号衰减器相连，信号衰减器通过数据传输线缆与场强仪相连，场强仪通过数据传输线缆与数据存储及分析装置相连。

2.根据权利要求1所述的一种电子装备等效辐射功率测试的设备，其特征在于：所述数据存储及分析装置由数据存储FLASH存储器、算法程序模块FPGA、复位电路、触摸屏接口电路、触摸屏，所述数据存储FLASH存储器输入端通过串口电路与场强仪相连，数据存储FLASH存储器输出端通过算法程序模块FPGA、触摸屏接口电路与触摸屏相连，其中算法程序模块FPGA的复位端与复位电路相连。

3.一种电子装备等效辐射功率测试的模糊方法，为模糊信息处理方法，其特征在于：其步骤如下：

1）、采用将经过标准天线、信号衰减器后由场强仪测试的场强值数据电信号传输至数据存储及分析装置，进行场强数据的模糊信息处理，确定被测试的电子装备等效辐射功率；

2）、对于被测试的电子装备等效辐射功率测试，采用等效辐射功率母体概率密度函数的估计方法，即被测试的电子装备等效辐射功率测试数据的模糊处理步骤如下：

（1）根据电子装备等效辐射功率测试数据样本为X={x₁,x₂,…,x_n}，其样本量为n，依据样本量n为在算法程序模块FPGA内查得对应的标准正态信息扩散估计系数α；

（2）通过算法程序模块FPGA计算最大测试值b=max{x₁,x₂,…,x_n}和a=min{x₁,x₂,…,x_n}，并根据公式计算标准正态扩散窗宽h；

（3）确定等效辐射功率母体概率密度函数f(x)的扩散估计

（4）计算被测试的电子装备等效辐射功率测试数据每一个样本点的扩散估计值f~m(xi)(i=1,2,...,n);]]>

（5）计算被测试的电子装备等效辐射功率测试数据每一个样本点出现的密度，即

pi=f~(xi)Σj=1nf~(xj)]]>

该值可以看成是每个测试数据信息扩散的概率；

（6）计算并得到被测试的电子装备等效辐射功率测试的模糊点估计，计算公式为

E(x)=Σi=1nxi·pi]]>

（7）计算被测试的电子装备等效辐射功率测试数据列的模糊熵，计算公式为

H(X)=-Σi=1np(xi)·lnp(xi)]]>

该值越大，说明电子装备等效辐射功率测试数据列取值的分散程度越大，其不确定性越大；

（8）计算被测试的电子装备等效辐射功率测试的模糊处理的扩展不确定度，计算公式为

U(X)=eH(X)2]]>

（9）计算被测试的电子装备等效辐射功率测试的模糊区间估计，即在置信水平β下，有等效辐射功率的模糊置信区间为

X^=[x‾-β·U(X),x‾+β·U(X)]]]>

（10）上述运算过程及运算结果都通过触摸屏接口电路在触摸屏上显示出来。