[发明专利]电子元件测试基座的浮动缓冲机构

权利要求书

1.一种电子元件测试基座的浮动缓冲机构，包括：

一盖体，具有一连结至一气压泵的入气孔；

一本体，具有一容置空间及多个定位槽，该本体与该盖体对应相结合，该多个定位槽的槽内的上方宽度大于下方宽度；

一弹性垫，夹设于该盖体与该本体之间，并覆盖该容置空间，用以界定出该盖体与该弹性垫间的一气密空间；

一滑移件，包括多个定位柱，该滑移件通过每一定位柱对应每一定位槽容设于该容置空间内，并位于该弹性垫的下方，且该滑移件可纵向滑移；

一测试基座，连结于该滑移件的底部并位于该本体的下方，具有至少一测试针组；以及

一容置座，与该测试基座对应结合设置，包括有对应于每一测试针组的一容置槽，用以容设一电子元件。

2.如权利要求1所述的电子元件测试基座的浮动缓冲机构，其中，该测试基座固设于一基座本体，该基座本体包括有至少一导引孔，该容置座固设于一底座，该底座包括有对应于该至少一导引孔的至少一导引柱。

3.如权利要求1所述的电子元件测试基座的浮动缓冲机构，其中，该盖体包括有多个开孔，该本体包括有多个锁附孔，通过每一开孔对应每一锁附孔进行锁附固定。

4.如权利要求3所述的电子元件测试基座的浮动缓冲机构，其中，该弹性垫包括有对应每一开孔的一定位孔，通过每一开孔对应每一定位孔进行锁附固定。

5.如权利要求2所述的电子元件测试基座的浮动缓冲机构，其中，该基座本体包括有多个穿孔，该滑移件包括有多个固定孔，通过每一穿孔对应每一固定孔进行锁附固定。

6.如权利要求1所述的电子元件测试基座的浮动缓冲机构，其中，该容置座设置于该测试基座下方。

7.如权利要求1所述的电子元件测试基座的浮动缓冲机构，其中，该容置座与该本体连接，该测试基座对应设于该容置座下方。

8.如权利要求1所述的电子元件测试基座的浮动缓冲机构，其中，该本体的该多个定位槽的数量为四，呈环状等间距排列。

9.如权利要求1所述的电子元件测试基座的浮动缓冲机构，其中，该弹性垫与该滑移件间的中央区域具有一间隙。

10.如权利要求2所述的电子元件测试基座的浮动缓冲机构，其中，该本体与该基座本体间的外环区域具有一间隙。