[发明专利]涂布后干涂量的测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种涂布量测量方法。

背景技术

现有的涂布量测量方法，是截取一块薄膜下来，先测量其面积，然后再称重，将涂布洗净之后再测量一次重量，两次重量的差值比上面积，就可以得到涂布的干涂量。这种方法每次截取的下来的薄膜面积不一，测量面积比较麻烦。

发明内容

本发明要解决的技术问题：针对现在的测量方法需要测量面积的问题，提供了一种不需要测量面积的测量方法。

本发明技术方案：

一种涂布后干涂量的测量方法，其特征在于：包括以下步骤：

步骤一，制作一块一定面积的板状模具，将模具压在薄膜上切下等面积的薄膜；

步骤二，将此部分薄膜称重；

步骤三，将薄膜上的涂料洗净；

步骤四，称重洗净后的薄膜，计算两次称重的差值，即可根据面积得到干涂量。

模具为圆形，半径0.0565m，厚1－2mm。

本发明有益效果：

测定涂布重量时用模具平压在涂布后的薄膜上，用刀片取样即为标准的圆形，面积刚好为0.01 m??，这样就不用再行测量截取的面积，减少工作量。模具制造一个即可多次使用。

具体实施方式：

实施例： 

先一个金属的模具，圆形薄片状半径0.0565m，厚为可为1－2mm，测定涂布重量时用模具平压在涂布后的薄膜上，用刀片取样即为标准的圆形，面积刚好为0.01 m??。将涂布后的薄膜先用电子天平称重，再用化学溶剂（酯溶性涂布用丁酮或乙酯）清洗干净后再称基膜，两者差值经单位换算后即可得出干涂量的大小。