[发明专利]位置测量仪和用于其运行的方法

权利要求书

1. 一种位置测量仪，其带有：

编码载体(1.2)，其带有至少一个第一分度轨道(1.21)和第二分度轨道(1.22)，其中，所述第二分度轨道(1.22)是增量分度轨道，

第一探测器组件(2.22)，其用于通过在测量方向上探测所述第一分度轨道(1.21)和所述第二分度轨道(1.22)产生第一位置信号(Z1_1,Z3_1,Z16_1)，

第二探测器组件(2.23)，其用于通过在测量方向上探测所述第二分度轨道(1.22)产生第二位置信号(Z16_2)，

第一位置处理单元(3.1,4.1)，其用于将所述第一位置信号(Z1_1,Z3_1,Z16_1)处理成第一绝对位置值(POS1)，以及

第二位置处理单元(3.2,4.2)，其用于将所述第二位置信号(Z16_2)处理成第二绝对位置值(POS2)，

其中，所述第二位置处理单元(3.2,4.2)能够利用绝对的辅助位置值(HPOS)初始化，所述辅助位置值由所述第一位置处理单元(3.1,4.1)输送给所述第二位置处理单元(3.2,4.2)。

2. 根据权利要求1所述的位置测量仪，其中，所述第二位置处理单元(3.2,4.2)包括：

精细位置评估单元(3.22)，其用于将所述第二位置信号(Z16_2)处理成精细位置值(FPOS)，

计数器单元(3.21)，所述精细位置值(FPOS)输送给其且利用其通过所述精细位置值(FPOS)的变化的计数能够产生粗略位置值(GPOS)，以及

位置值形成单元(3.23)，利用其能够将所述粗略位置值(GPOS)和所述精细位置值(FPOS)处理成所述第二绝对位置值(POS2)，

并且所述计数器单元(3.21)能够利用绝对的所述辅助位置值(HPOS)初始化。

3. 根据权利要求1所述的位置测量仪，其中，所述第二位置处理单元(3.2,4.2)包括：

精细位置评估单元(3.22)，其用于将所述第二位置信号(Z16_2)处理成精细位置值(FPOS)，

存储器单元(4.21)，所述第二绝对位置值(POS2)输送给其且所述第二绝对位置值(POS2)能够作为粗略位置值(GPOS)存储在其中，以及

位置值形成单元(4.23)，利用其能够将所述粗略位置值(GPOS)和所述精细位置值(FPOS)处理成所述第二绝对位置值(POS2)，

并且绝对的所述辅助位置值(HPOS)能够作为粗略位置值(GPOS)存储在所述存储器单元(4.21)中。

4. 根据权利要求1至3中任一项所述的位置测量仪，其中，所述第一分度轨道(1.21)是绝对分度轨道且所述第一位置处理单元(3.1)包括粗略位置评估单元(3.11)，其从由所述第一分度轨道(1.21)的探测得出的位置信号(Z1_1)产生绝对的粗略位置值(GPOS)，其作为辅助位置值(HPOS)输送给所述第二位置处理单元(3.2,4.2)。

5. 根据权利要求1至3中任一项所述的位置测量仪，其中，所述第一分度轨道(1.21)是第一增量分度轨道且所述第二分度轨道(1.22)是第二增量分度轨道，所述分度轨道(1.21,1.22)具有不同数量的分度周期且所述第一位置处理单元(4.1)从由所述第一分度轨道(1.21)和所述第二分度轨道(1.22)的探测得出的位置信号(Z3_1,Z16_1)产生所述第一绝对位置值(POS1)，其中的至少一定数目的高值的位作为辅助位置值(HPOS)输送给所述第二位置处理单元(3.2,4.2)。

6. 根据前述权利要求中任一项所述的位置测量仪，其中，设置有开关器件(3.3,3.6)，利用其能够将所述辅助位置值(HPOS)输送给所述第二位置处理单元(3.2,4.2)。

7. 根据前述权利要求中任一项所述的位置测量仪，其中，所述第二探测器组件(2.23)包括用于探测所述第一分度轨道(1.21)的第一位置探测器(2.231)和用于探测所述第二分度轨道(1.22)的第二位置探测器(2.232)且设置有开关器件(3.4,3.5)，利用其能够将由所述第一分度轨道(1.21)的探测得出的位置信号(Z1_2,Z3_2)输送给所述第一位置处理单元(3.1,4.1)以形成所述辅助位置值(HPOS)。