[发明专利]液晶显示面板的闪烁测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示面板性能测试技术领域，特别涉及一种液晶显示面板的闪烁测试方法。

 

背景技术

在液晶显示面板（LCD）的制造过程中，需要对其显示面板进行性能测试，在发明中，主要涉及其中的闪烁（flicker）测试，从而测得显示面板的色度、色温、亮度等指标的数值，以及是否闪烁，判断是否符合相关的要求，并根据测试结果对液晶显示面板进行相应的调整。

如图3所示，对于传统阵列排布的液晶显示面板（图1），通常使用1+2闪烁测试图案对该液晶面板进行闪烁测试，因为在这种闪烁测试图案下会加强闪烁，便于对闪烁程度的捕获，在调节公共电极电压使闪烁程度降低后，在正常的显示画面下，闪烁程度会更低。然而，传统阵列排布的液晶显示面板仅支持点（dot，在本发明中指代一个R、G或B的点，或称之为像素单元）列翻转，而一些新型的液晶显示面板，采用了不同的阵列排布方法，如图2所示。目前出现了一种双栅极（dual gate）的阵列排布方法，为了适应这种新型的液晶显示面板，新型的闪烁测试设备提供了图4的双列闪烁测试方式，但是由于两种液晶显示面板的阵列排布不同，1+2闪烁测试无法应用于新型的液晶显示面板。

本发明的目的在于，提供一种液晶显示面板的闪烁测试方法，从而减少购入新型的测试设备的成本（在高端设备领域，制造商普遍是将设备的硬件和软件分开出售的，若原有的软件中的工艺方法无法兼容新购入的设备或者会产生例如上述的缺陷，则需要同时购入对应的软件才能正常使用）。

 

发明内容

本发明针对现有技术存在的上述不足，提供了一种液晶显示面板的闪烁测试方法，从而减少购入新型的测试设备的成本。

本发明通过以下技术方案实现：

一种液晶显示面板的闪烁测试方法，在双栅极液晶显示面板上，执行包括以下步骤：

S1、将液晶显示面板的每两个像素视为液晶显示面板实际的一个点；

S2、执行闪烁测试，液晶显示面板的每两个像素之间进行交叉点亮；

S3、调整液晶显示面板的公共电极电压，直至液晶显示面板中间区域不闪烁；

S4、将液晶显示面板的每两个实际的点之间进行交叉点亮；

S5、检查液晶显示面板中间区域是否闪烁，若闪烁则重新执行S2，若不闪烁则完成闪烁测试。

较佳的，一个点为R、G或B三者之一。

较佳的，一个像素包括一个R点、一个G点和一个B点。

 

附图说明

图1和图2所示的是现有的两种不同矩阵排列方式示意图；

图3所示的是现有的闪烁测试方法的示意图；

图4所示的是在双栅极液晶显示面板上进行闪烁测试的示意图；

图5所示的是本发明在双栅极测试设备上应用的示意图；

图6所示的是本发明与现有测试方法的Vcom值测试结果对比示意图；

图7所示的是本发明与现有测试方法的Vcom值和Gamma值测试结果对比示意图。

 

具体实施方式

以下将结合本发明的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述和讨论，显然，这里所描述的仅仅是本发明的一部分实例，并不是全部的实例，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明的保护范围。

为了便于对本发明实施例的理解，下面将结合附图以具体实施例为例作进一步的解释说明，且各个实施例不构成对本发明实施例的限定。

液晶显示面板包括多条数据线和多条栅线，多条数据线与多条栅线交叉形成若干个矩阵排列的点（dot，像素单元），每个点包括一个薄膜晶体管和一个像素电极，每列数据线通过薄膜晶体管连接像素电极。而不同的液晶显示面板的矩阵排列中，像素电极的连接方式不同。请对比图1和图2，图1中的像素电极的连接方式都相同，如图3所示，可采用传统的1+2闪烁测试方式进行闪烁测试；而图2中的每一行像素电极，分别交叉连接在其左侧或右侧的数据线上，由于其特殊的排列方式，不适应传统的1+2闪烁测试方式。有鉴于此，目前市面上的双栅极液晶显示面板同样也不适应与传统的1+2闪烁测试方式，其闪烁测试方式可参考图4，是一种双列翻转的方法，由于的双栅极液晶显示面板的结构为现有技术，本发明在此不做赘述。

本实施例提供一种主要应用于双栅极液晶显示面板的液晶显示面板的闪烁测试方法，执行包括以下步骤：