[发明专利]一种X线平板探测器图像坏线的修补方法有效
申请号: | 201310441747.6 | 申请日: | 2013-09-25 |
公开(公告)号: | CN104463831B | 公开(公告)日: | 2019-07-09 |
发明(设计)人: | 赵明 | 申请(专利权)人: | 深圳市蓝韵实业有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T5/00;G06T5/20;A61B6/03 |
代理公司: | 深圳冠华专利事务所(普通合伙) 44267 | 代理人: | 诸兰芬 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 平板 探测器 图像 修补 方法 | ||
1.一种X线平板探测器图像坏线的修补方法,其特征在于,包括步骤:
A、计算X线平板探测器图像中坏线区域的异常度diffVal;
B、当异常度diffVal大于预设的第一阈值T时,进一步判断异常度diffVal是否大于预设的第二阈值t,若是,转入步骤C,否则转入步骤D;
C、忽略X线平板探测器图像坏线中各像素点的像素值,通过坏线坐标周围的非损坏像素区域,在坏线垂直方向使用插值平滑法对图像进行处理,得到最终的修补图像f(x,y);
D、检测坏线坏线方向明显的边缘,对边缘进行曲线拟合,并经过插值及平滑处理得到最终的修补图像f(x,y);
其中,第一阈值T的计算公式为第二阈值t的计算公式为i=1,2,…,N,N为坏线方向上像素点的个数,Max(GrayScale)为X线平板探测器图像的最大灰度值,Xi为坏线上各像素点的像素值,与分别是与坏线左右两侧相邻的两条完好的像素线上各像素点的像素值。
2.根据权利要求1所述一种X线平板探测器图像坏线的修补方法,其特征在于,检测坏线坏线方向明显的边缘的步骤包括:
使用高斯平滑模板进行滤波;
使用Sobel垂直方向滤波模板进行滤波检测得到坏线区域中平行于坏线方向明显的边缘,并记录下这些边缘点的坐标(xj,yj)。
3.根据权利要求1所述一种X线平板探测器图像坏线的修补方法,其特征在于,对边缘进行曲线拟合的步骤包括:将得到的边缘点坐标使用二次多项式ax2+bx+c=y进行曲线拟合,a为2次项系数,b为一次项系数,c为常数项,x是自变量也是在图像中的行坐标,y是因变量也是在图像中的列坐标。
4.根据权利要求3所述一种X线平板探测器图像坏线的修补方法,其特征在于,步骤D中插值处理的步骤包括:
在坏线区域内边缘中每一点(xj,yj)∈ax2+bx+c的法线方向向上使用和内的像素值和坏线本身在曲线方程上的像素点值进行插值,插值方法为y=0,1,…,L-1,其中,t为预设的二次阈值,I为X线平板探测器图像的像素值,k为控制系数,(xj,yj)为使用Sobel垂直方向滤波模板进行滤波检测得到坏线区域中平行于坏线方向明显的边缘处的点,和为与坏线左右两侧相邻的两条完好的像素线的像素点值,L为上下贯穿平板的坏线的条数。
5.根据权利要求4所述一种X线平板探测器图像坏线的修补方法,其特征在于,控制系数k为1。
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