[发明专利]一种有源像素结构及其制作方法无效
申请号: | 201310441960.7 | 申请日: | 2013-09-26 |
公开(公告)号: | CN103456756A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | 王颖;杨晓亮;曹菲;胡海帆 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工程大学 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L21/762 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 有源 像素 结构 及其 制作方法 | ||
1.一种有源像素结构,其特征在于,包括:NMOS器件和PMOS器件,其中,
所述NMOS器件在100晶向的SOI顶层多晶硅薄膜上;
所述PMOS器件在110晶向或111晶向的SOI顶层多晶硅薄膜上。
2.一种有源像素结构的制作方法,其特征在于,包括:
将第一硅片和第二硅片的表面进行热氧化处理,其中,所述第一硅片和所述第二硅片的晶向不同;
将表面进行热氧化处理的所述第一硅片和所述第二硅片进行键合;
将所述第一硅片的一部分SOI层及埋氧层进行刻蚀;
将所述第二硅片进行外延生长,生长之后的所述第二硅片覆盖所述第一硅片被刻蚀的SOI层部分。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述第一硅片的晶向为100晶向,所述第二硅片的晶向为110晶向或111晶向,所述方法还包括:
将NMOS器件制作在所述第一硅片的SOI层上;
将PMOS器件制作在所述第二硅片的SOI层上。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的