[发明专利]用于改变X射线辐射的局部强度的设备和方法

权利要求书

1.一种用于改变X射线辐射(2)的局部强度的设备，其特征在于，

-带有多个单独的可填充以铁磁流体(6)且在X射线辐射方向上堆叠的吸收室(4)的X射线滤波器(3)，和

-多个其内可存储所述铁磁流体(6)的存储容器(5)，

-其中，每个所述吸收室(4)分别与一个所述存储容器(5)连接。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，每个所述吸收室(4)分别与一个所述存储容器(5)布置在一个平面内。

3.根据权利要求1或2所述的设备，其特征在于，该设备具有用所述铁磁流体(6)产生过压或负压的压力装置(7)。

4.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述压力装置(7)是压力存储器(8、10)或泵(16)。

5.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，该设备具有布置在所述存储容器(5)和所述压力装置(7)之间的第一阀(12)，通过所述第一阀(12)能调节所述铁磁流体(6)在所述吸收室(4)和所述存储容器(5)之间的流入和流出。

6.根据权利要求1或2所述的设备，其特征在于，所述吸收室(4)和所述存储容器(5)在X射线辐射方向上的厚度在50μm至150μm之间。

7.根据权利要求1或2所述的设备，其特征在于，具有将堆叠的所述吸收室(4)相互分开的分离器层。

8.根据权利要求7所述的设备，其特征在于，所述分离器层可由玻璃或聚甲基丙烯酸甲酯制成。

9.根据权利要求1或2所述的设备，其特征在于，所述吸收室(4)和/或所述存储容器(5)内衬有疏水层。

10.根据权利要求1或2所述的设备，其特征在于，布置在所述吸收室(4)和与之连接的存储容器(5)之间的第二阀(13)，通过所述第二阀(13)能调节所述铁磁流体(6)在所述吸收室(4)和所述存储容器(5)之间的流入和流出。

11.根据权利要求1或2所述的设备，其特征在于，该设备具有至少一个产生磁力的电磁体(14)。

12.根据权利要求1或2所述的设备，其特征在于，所述铁磁流体(6)在所述吸收室(4)内的局部分布能够通过至少一个作用在所述铁磁流体(6)上的磁力控制。

13.根据权利要求12所述的设备，其特征在于，通过所述铁磁流体(6)的分布能形成孔(15)。

14.一种用于借助X射线滤波器(3)改变X射线辐射(2)的局部强度的方法，其特征在于，

-将铁磁流体(6)存储在多个存储容器(5)内(120)，和

-单独地用所述铁磁流体(6)对所述X射线滤波器(3)的多个堆叠的吸收室(4)进行填充(140)，其中每个所述吸收室(4)分别与一个所述存储容器(5)连接。

15.根据权利要求14所述的方法，所述方法以根据权利要求1至9中一项所述的设备执行。

16.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，通过至少一个作用在所述铁磁流体(6)上的磁力控制所述铁磁流体(6)在所述吸收室(4)内的局部分布。

17.根据权利要求16所述的方法，所述方法以根据权利要求1至13中一项所述的设备执行。