[发明专利]滤光片缺陷特征参数选择的熵方法

权利要求书

1.滤光片缺陷特征参数选择的熵方法，其特征在于，所述方法包括：

分割缺陷滤光片图像中包含缺陷的外接矩形，形成缺陷ROI；

设置候选特征集F的元素，设置已选特征集S为空集；

计算所述缺陷ROI的特征值，通过特征值构造样本集合；

计算样本集合中所有样本的候选特征f_if_k与类C的归一化互信息SU(f_if_k,C)；

根据归一化互信息SU(f_if_k,C)最大值选出已选特征集S的第一个元素s₁；去除候选特征集F中已选入S的特征及归一化互信息SU(f_if_k,C)小于阈值的候选特征；

计算候选特征集F中每个候选特征f_if_k的评价函数J(f_if_k,C,S)的值；根据评价函数J(f_if_k,C,S)最大值选出已选特征集S的下一个元素；去除候选特征集F中已选入S的特征及评价函数J(f_if_k,C,S)小于阈值的候选特征；重复该步骤，直至候选特征集F为空集；

已选特征集S的元素即为滤光片缺陷特征参数。

2.根据权利要求1所述的滤光片缺陷特征参数选择的熵方法，其特征在于，所述候选特征集F中的元素称为候选特征f_if_k，当i=k时f_if_k表示单一特征f_i，当i≠k时f_if_k表示f_i与f_k的组合特征。

3.根据权利要求1所述的滤光片缺陷特征参数选择的熵方法，其特征在于，所述通过特征值构造样本是对每个缺陷ROI计算指定的D个特征，由D个特征值及特征值的两两组合构成候选特征的一个样本。

4.根据权利要求1所述的滤光片缺陷特征参数选择的熵方法，其特征在于，所述归一化互信息SU(f_if_k,C)与评价函数J(f_if_k,C,S)均转化为熵值来计算，计算时先将候选特征的连续取值离散化，再按熵的公式计算。