[发明专利]用于LTE RRU的模拟BBU测试装置、系统及方法

权利要求书

1.一种用于LTE RRU的模拟BBU测试装置，所述RRU为基站处理单元，所述BBU为射频拉远单元，其特征在于：包括处理器模块、逻辑模块、光接口模块和时钟模块，处理器模块、逻辑模块、光接口模块依次电性连接，时钟模块向逻辑模块、光接口模块和处理器模块分别输出时钟信号；

所述处理器模块，包括CPU芯片及与CPU芯片分别连接的CPLD、存储单元和接口电路；

所述逻辑模块，包括FPGA和SRAM，FPGA和SRAM连接；

所述光接口模块包括串并转换单元和光电转换单元，串并转换单元和光电转换单元连接。

2.根据权利要求1所述用于LTE RRU的模拟BBU测试装置，其特征在于：所述时钟模块输出的时钟信号包括50M时钟和122.88M时钟；其中，50M时钟由晶振芯片提供，122.88M时钟通过时钟芯片提供，时钟芯片以串并转换单元在上行测试过程中恢复的122.88M时钟或10M时钟为参考时钟， 10M时钟为外接提供或者由晶振芯片提供。

3.根据权利要求2所述用于LTE RRU的模拟BBU测试装置，其特征在于：所述处理器模块的CPU芯片通过POWER PC实现；所述存储单元包括FPGA和SDRAM。

4.根据权利要求1或2或3所述用于LTE RRU的模拟BBU测试装置实现的测试系统，其特征在于：包括模拟BBU测试装置、被测RRU、计算机、频谱分析仪和信号源，计算机与模拟BBU测试装置通过RS232串口线和网线连接，模拟BBU测试装置与被测RRU通过光纤连接，被测RRU与频谱分析仪、信号源分别通过射频测试线连接。

5.根据权利要求4所述用于LTE RRU的模拟BBU测试系统实现的测试方法，其特征在于：通过计算机配置模拟BBU测试装置的光口速率和IQ数据源文件，对被测RRU在多种制式和多种带宽下进行测试，所述多种制式包括TDD-LTE和FDD-LTE，所述多种带宽包括5M、10M、15M、20M和40M，所述测试包括下行测试过程和上行测试过程。

6.根据权利要求5所述测试方法，其特征在于：配置IQ数据源文件的实现方式是，将IQ数据源文件存储在处理器模块的FLASH中，开始下行测试过程时加载到逻辑模块中的SRAM中。

7.根据权利要求6所述测试方法，其特征在于：下行测试过程实现方式如下，

模拟BBU测试装置中，CPU芯片根据系统需求和计算机的配置指令产生控制管理信息，并通过FPGA将IQ数据源文件加载到SRAM中，FPGA从SRAM中载入IQ数据源文件，将IQ数据源文件中的IQ数据与控制管理信息编码，以并行数据的形式发送给光接口模块，光接口模块中的串并转换单元将并行数据转换为串行数据并发送到光电转换单元，通过光电转换单元将串行数据从电信号转换为光信号，通过光纤下发光信号给被测RRU；频谱分析仪分析被测RRU的下行通道指标。

8.根据权利要求6所述测试方法，其特征在于：上行测试过程实现方式如下，

信号源产生的信号经过被测RRU内部处理后，被测RRU将所得基带数据通过光信号上传至模拟BBU测试装置；模拟BBU测试装置中，光电转换单元将光信号转换为电信号并发送到串并转换单元，再通过串并转换单元将串行数据形式的电信号转换为并行数据，FPGA将并行数据形式的基带数据进行解调得到IQ数据和控制管理信息，并输出到处理器模块进行处理，处理器模块对控制管理信息进行相应处理，并将IQ数据发送到计算机；在计算机对所接收的IQ数据进行分析。