[发明专利]路径损耗的测试方法在审
| 申请号： | 201310453302.X | 申请日： | 2013-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN104519519A | 公开（公告）日： | 2015-04-15 |
| 发明（设计）人： | 冯世英 | 申请（专利权）人： | 普天信息技术研究院有限公司 |
| 主分类号： | H04W24/08 | 分类号： | H04W24/08 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司11018 | 代理人： | 王一斌;王琦 |
| 地址： | 100080*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 路径 损耗 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种路径损耗的测试方法，其特征在于，包括：
a、信号发射机根据LTE230协议，产生LTE230协议信号，并通过全向天线将所述LTE230协议信号作为测试信号发送给信号接收机;
b、所述信号接收机对接收到的所述测试信号进行解调，根据解调后的数据计算相应的接收信号功率；
c、根据所述接收信号功率和所述测试信号的发送功率，得到路径损耗数据。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤b中进一步包括：
所述信号接收机根据所述解调后的数据，计算相应的信噪比和误块率。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法进一步包括：
利用所述路径损耗数据、所述信噪比和所述误块率，确定相应的基站覆盖区域。
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