[发明专利]一种可寻址电调成像波谱红外探测芯片有效

专利信息
申请号: 201310454559.7 申请日: 2013-09-29
公开(公告)号: CN103542939A 公开(公告)日: 2014-01-29
发明(设计)人: 张新宇;罗俊;康胜武;佟庆;张静;李利荣;赵慧;桑红石;谢长生 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 朱仁玲
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 寻址 成像 波谱 红外 探测 芯片
【权利要求书】:

1.一种可寻址电调成像波谱红外探测芯片,其特征在于,包括电调成像波谱液晶模块、面阵非制冷红外探测器和驱控预处理模块;其中,

所述面阵非制冷红外探测器被划分成多个阵列分布的子面阵非制冷红外探测器,每个子面阵非制冷红外探测器包括数量和排布方式相同的多个阵列分布的光敏元;

所述电调成像波谱液晶模块与所述面阵非制冷红外探测器匹配耦合,包括多个阵列分布的电调成像波谱液晶结构单元,电调成像波谱液晶结构单元与子面阵非制冷红外探测器一一对应;

所述电调成像波谱液晶模块用于使目标波束发生多级次高反射干涉相干,通过独立调节加载在各电调成像波谱液晶结构单元上的电压信号,调变透过各电调成像波谱液晶结构单元的谱红外光波的波长;

所述面阵非制冷红外探测器用于将透过所述电调成像波谱液晶模块的谱红外光波转换成电信号;

所述驱控预处理模块用于将光电信号进行量化、配准和非均匀性校正,得到目标红外图像数据。

2.如权利要求1所述的可寻址电调成像波谱红外探测芯片,其特征在于,所述电调成像波谱液晶模块和所述面阵非制冷红外探测器均为m×n元,其中,m、n均为大于1的整数。

3.如权利要求1所述的可寻址电调成像波谱红外探测芯片,其特征在于,所述子面阵非制冷红外探测器为p×q元,其中,p、q均为大于1的整数。

4.如权利要求1至3中任一项所述的可寻址电调成像波谱红外探测芯片,其特征在于,所述驱控预处理模块采用SoC和FPGA结合的结构。

5.如权利要求1至4中任一项所述的可寻址电调成像波谱红外探测芯片,其特征在于,所述驱控预处理模块还用于为所述电调成像波谱液晶模块和所述面阵非制冷红外探测器提供驱动和调控信号,驱动所述电调成像波谱液晶模块和所述面阵非制冷红外探测器工作,并对施加在各电调成像波谱液晶结构单元上的电压信号进行调控。

6.如权利要求1所述的可寻址电调成像波谱红外探测芯片,其特征在于,还包括陶瓷外壳和金属支撑散热板;其中,

所述陶瓷外壳位于所述金属支撑散热板的上方,所述金属支撑散热板与所述陶瓷外壳固联,用于支撑和散热,所述驱控预处理模块、所述面阵非制冷红外探测器和所述电调成像波谱液晶模块同轴顺序置于所述陶瓷外壳内,其中,所述面阵非制冷红外探测器位于所述驱控预处理模块的上方,所述电调成像波谱液晶模块位于所述面阵非制冷红外探测器的上方且其光入射面通过所述陶瓷外壳的面部开孔裸露出来。

7.如权利要求6所述的可寻址电调成像波谱红外探测芯片,其特征在于,所述驱控预处理模块上设有第二端口和第二指示灯,所述面阵非制冷红外探测器上设有第三端口和第三指示灯,所述电调成像波谱液晶模块上设有第四端口和第四指示灯;

所述第二端口用于从所述驱控预处理模块向所述面阵非制冷红外探测器和所述电调成像波谱液晶模块输出驱动和调控信号,还用于接收来自所述面阵非制冷红外探测器的红外光电响应信号,还用于接收外部设备向探测器输入的工作指令,所述第二指示灯用于指示所述驱控预处理模块是否处在正常的工作状态;

所述第三端口用于输入所述驱控预处理模块提供给所述面阵非制冷红外探测器的驱动和调控信号,还用于从所述面阵非制冷红外探测器向所述驱控预处理模块输出红外光电响应信号,所述第三指示灯用于指示所述面阵非制冷红外探测器是否处在正常工作状态;

所述第四端口用于输入所述驱控预处理模块提供给所述电调成像波谱液晶模块的驱动和调控信号,所述第四指示灯用于指示所述电调成像波谱液晶模块是否处在正常工作状态。

8.如权利要求7所述的可寻址电调成像波谱红外探测芯片,其特征在于,所述驱控预处理模块上设有第一端口和第一指示灯,所述第一端口用于接入电源线以连接外部电源,所述第一指示灯用于指示电源是否接通。

9.如权利要求8所述的可寻址电调成像波谱红外探测芯片,其特征在于,所述驱控预处理模块上设有第五端口和第五指示灯,所述第五端口用于将所述目标红外图像数据从所述驱控预处理模块输出,所述第五指示灯用于指示所述驱控预处理模块是否处在正常的数据输出状态。

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