[发明专利]基于FPGA的红外焦平面阵列盲元检测系统及方法有效
申请号: | 201310456821.1 | 申请日: | 2013-09-29 |
公开(公告)号: | CN104515599B | 公开(公告)日: | 2018-09-04 |
发明(设计)人: | 顾国华;张桥舟;陈钱;隋修宝;钱惟贤;路东明;何伟基;于雪莲 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G01J5/10 | 分类号: | G01J5/10 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 朱显国 |
地址: | 210094 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 fpga 红外 平面 阵列 检测 系统 方法 | ||
1.一种基于FPGA的红外焦平面阵列盲元检测系统,其特征在于,包括两点参数计算和存取模块(1)、基于增益矩阵K的掩膜滑动窗口盲元检测模块(2)、基于偏置矩阵B的二次3σ盲元检测模块(3)、盲元集合表存储更新模块(4)和盲元补偿模块(5);两点参数计算和存取模块(1)的输出端分别接入基于增益矩阵K的掩膜滑动窗口盲元检测模块(2)和基于偏置矩阵B的二次3σ盲元检测模块(3),基于增益矩阵K的掩膜滑动窗口盲元检测模块(2)和基于偏置矩阵B的二次3σ盲元检测模块(3)的输出端均接入盲元集合表存储更新模块(4),盲元集合表存储更新模块(4)与盲元补偿模块(5)连接;
两点参数计算和存取模块(1)将原始的数字图像信号进行两点参数的解算,得到两点参数矩阵并存入FPGA的内部RAM;基于增益矩阵K的掩膜滑动窗口盲元检测模块(2)读取内部RAM中存储的两点参数矩阵中的增益矩阵K,并使用掩膜滑动窗口3σ法则进行盲元检测,得到盲元集合表{A};基于偏置矩阵B的二次3σ盲元检测模块(3)读取内部RAM中存储的两点参数矩阵中的偏置矩阵B,并使用二次3σ法则进行盲元检测,得到盲元集合表{C};然后将盲元集合表{A}和{C}送入盲元集合表存储更新模块(4)进行整理合并后存入内部RAM;盲元补偿模块(5)读取内部RAM的盲元集合表进行后续补偿操作。
2.一种基于FPGA的红外焦平面阵列盲元检测方法,其特征在于,步骤如下:
步骤1,两点参数解算和存取:红外探测器对准面源黑体之后进行热电信号的转换,然后将原始的数字图像信号送入两点参数计算和存取模块(1)进行两点参数的解算,进行多次两点校正求平均值后,将所得的两点参数矩阵存入FPGA的内部RAM;
步骤2,基于增益矩阵K的掩膜滑动窗口盲元检测模块(2)读取内部RAM中存储的两点参数矩阵中的增益矩阵K,并使用掩膜滑动窗口3σ法则进行盲元检测,得到盲元集合表{A};
步骤3,基于偏置矩阵B的二次3σ盲元检测模块(3)读取内部RAM中存储的两点参数矩阵中的偏置矩阵B,并使用二次3σ法则进行盲元检测,得到盲元集合表{C};
步骤4,将步骤2所得盲元集合表{A}和步骤3所得盲元集合表{C}送入盲元集合表存储更新模块(4)进行整理合并,得到最终的盲元集合表{T1}并存入内部RAM;
步骤5,调整检测温度重复检测:改变步骤1中的面源黑体温度,并重复步骤1~4,得到不同温度对应的盲元集合表,通过盲元集合表存储更新模块(4)将不同温度的盲元集合表顺次存入FPGA的内部RAM;
步骤6,盲元集合表整合:盲元集合表存储更新模块(4)将不同检测温度的盲元集合表进行整理合并,得到最终的盲元集合表{T}并存入内部RAM;
步骤7,盲元补偿模块(5)读取RAM中的最终盲元集合表{T}并进行后续的盲元补偿操作。
3.根据权利要求2所述的基于FPGA的红外焦平面阵列盲元检测方法,其特征在于,步骤2所述的基于增益矩阵K的掩膜滑动窗口盲元检测,具体步骤如下:
(2.1)设定滑动掩膜窗口大小为N×N,且N为3~9的奇数,滑动掩膜窗口中心位置(i0,j0)为需要检测的像元点,(i0,j0)是增益矩阵K中的点,读取中心位置为(i0,j0)的滑动掩膜窗口所在区域中各像元(i,j)的增益值然后确定该滑动掩膜窗口下所有像元增益值的均值和方差
(2.2)根据3σ法则,若则(i0,j0)像元点为探测器的正常像元,若则(i0,j0)像元点为探测器的异常像元即盲元;
(2.3)重复步骤(2.1)~(2.2),滑动掩膜窗口遍历整幅图像,得到盲元集合表{A}。
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