[发明专利]微焦点X射线图像噪声建模与去噪方法无效

专利信息
申请号: 201310459497.9 申请日: 2013-09-29
公开(公告)号: CN103500441A 公开(公告)日: 2014-01-08
发明(设计)人: 高红霞;徐寒 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T7/00;G01N23/04
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 蔡茂略
地址: 511458 广东省广州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 焦点 射线 图像 噪声 建模 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种X射线图像的去噪方法,尤其是一种微焦点X射线图像噪声建模与去噪方法。属于图像处理领域。

背景技术

随着X射线摄影技术的不断提高,X射线检测技术越来越多的应用在医学病理检测及工业缺陷检测方面。但无论是医学上常用的百微米焦点X射线管,还是工业上常用的微焦点X射线源的射线管,获得的X射线图像信噪比都比较低,图像受颗粒噪声污染、雾化情况严重,表现出明显的噪声污染现象,这些不良现象给微焦点X射线图像的检测带来了一定的困难。因此,对微焦点X射线图像去噪十分必要。

虽然,国内外研究人员对图像去噪算法有了很多研究,但大多都是将一个或多个确定性噪声模型应用于图像去噪,并未考虑噪声本身的特性、种类以及图像本身的特点,对于微聚焦X光图像这种信噪比低,缺陷对比度差的对象,难以在去噪的同时,兼顾相邻像素灰度保序原则,达到既去除噪声又不破坏原有图像结构的目的。

由于在微聚焦X射线成像过程中,无论哪种噪声,虽然产生机理不同,但都可以看作粒子传输过程中的伴随噪声和成像系统显示、外界干扰引起的附加噪声。其特征都可以定义为高斯分布(强射线强度下的光电噪声、荧光屏结构噪声、电子噪声等)。因此,为了去除低对比度、低灰度的微焦点X射线图像的噪声,提高微焦点X射线图像的精密检测精度,就需要发明噪声基于高斯分布特性的方法来解决这一问题。

发明内容

本发明的目的是为了解决上述现有技术的缺陷,提供一种计算速度快、简单快捷的微焦点X射线图像噪声建模与去噪方法。

本发明的目的可以通过采取如下技术方案达到:

微焦点X射线图像噪声建模与去噪方法,其特征在于所述方法包括以下步骤:

1)用X光机器采集含有噪声的空白图像A;

2)将空白图像A中的噪声视为均值为零的高斯白噪声,计算噪声方差σ2

3)采集含有对象的微焦点X射线图像B,采用滤波模板为3×3,均值为零,方差为σ2的高斯滤波器对图像B进行去噪。

作为一种实施方案,所述方法还包括:

4)通过Canny边缘检测算法对步骤3)进行去噪后的图像进行检测。

作为一种实施方案,步骤2)所述将空白图像A中的噪声视为均值为零的高斯白噪声,计算噪声方差σ2,具体如下:

2.1)求图像均值aver:

aver=1m×n·Σi=1mΣj=1nf(x,y)---(1)]]>

其中,f(x,y)为输入图像,图像大小为m×n;

2.2)求图像方差σ2

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