[发明专利]用于位误差检测的具有自同步的测试和测量仪器

说明书

技术领域

本发明的实施例涉及在测试和测量仪器上的位误差(bit-error)检测，更具体地，涉及自动搜索和识别测试图案(test pattern)内的同步子图案。

背景技术

例如示波器、逻辑分析器等的测试和测量仪器可以用于测量和分析数据。测试图案可以被生成并馈送给被测装置(DUT)。测试图案可以包括故意给DUT施压的信号。例如，测试图案可以包括信号衰减、抖动或扩谱计时(SSC)来确定DUT的操作裕度(margin)。

通过比较入局位流和存储在测试和测量仪器的存储器中的预先记录的正确图案来执行位误差检测。当测试开始时，测试和测量仪器等待输入流中的同步子图案，并且然后开始比较入局位和预先记录的正确图案的内容。同步子图案是整个重复的固定长度测试图案中的唯一子图案。

评估DUT所涉及的操作员或其他技术人员不总是知晓同步子图案。很难或有时不可能手动识别测试图案内的唯一同步子图案，特别是如果测试图案长或者复杂的话。一种传统的方法是重复地推进候选同步子图案的选择直到在入局位流与预先记录的测试图案的比较中没有误差发生。但是这样的方法只有当在试图确定同步点的同时入局图案不包含信号中的任何位误差或步测原语(pacing primitive)时才有用。此外，这样的方法是资源密集和无效率的。

因此，仍然需要用于以下的改进系统、方法和装置：自动搜索和识别用于测试和测量仪器上的逐位误差检测的测试图案内同步子图案。本发明的实施例解决现有技术中的这些和其他限制。

发明内容

本发明一方面提供一种用于自动识别与具有预定义长度的测试图案相关联的同步子图案的方法，所述方法包括：通过测试和测量仪器的输入，从被测装置接收包括所述测试图案的数据流；从存储器读取与存储地址相关联的存储字的内容；将所述存储字的所述内容设置为触发图案；将所述触发图案加载到触发器；触发所述测试与测量仪器以响应于在所述数据流中检测到所述触发图案的第一实例；通过触发到触发(trigger-to-trigger)计数器开始计数以响应于检测到所述触发图案的所述第一实例；触发所述测试与测量仪器以响应于在所述数据流中检测到所述触发图案的第二实例；通过所述触发到触发计数器终止所述计数以响应于检测到所述触发图案的所述第二实例；以及将所述计数与所述测试图案的所述预定义长度进行比较。

本发明另一方面提供一种测试和测量仪器，其包括：输入，配置成接收包含具有预定义长度的测试图案的数据流；存储器，配置成存储多个存储字；自动同步逻辑，耦合到所述存储器并且配置成从所述多个存储字之中读取存储字的内容，以将所述存储字的所述内容设置为触发图案；触发器，配置成触发所述测试与测量仪器以响应于所述数据流中的所述触发图案的第一实例并触发所述测试与测量仪器以响应于所述数据流中的所述触发图案的第二实例；触发到触发计数器，配置成开始对计数进行计数以响应于所述触发图案的所触发第一实例并且终止对所述计数进行计数以响应于所述触发图案的所触发第二实例；以及比较器，配置成将所述计数与所述测试图案的所述预定义长度进行比较。

附图说明

图1和图2根据本发明的实施例示出包括信号发生器、被测装置和包括自同步(auto-sync)误差检测器的测试和测量仪器的系统。

图3根据本发明的实施例示出包括自同步逻辑的图1和图2中自同步误差检测器125的示例框图。

图4A和4B根据本发明的实施例示出涉及用于自动确定测试图案内的同步子图案的技术的示例图。

图5根据本发明的实施例示出包括触发到触发图案比较器和自同步状态机的图3中自同步逻辑的示例框图。

图6示出图5中触发到触发图案比较器的示例框图。

图7示出包括与图5中自同步状态机相关联的各种操作要素的示例状态机图。

图8根据本发明的实施例示出具有子图案中唯一子-子图案的重复同步子图案的示图。

根据参考附图进行的示例实施例的以下详细描述，本发明概念的前述和其它特征和优势将变得更容易地显而易见。

具体实施方式

现在将详细参考本发明的实施例，其示例在附图中示出。在以下详细描述中，阐述了许多具体细节以便能够彻底理解本发明的概念。然而，应该理解本领域普通技术人员可在没有这些具体细节的情况下实践本发明的概念。在其它实例中，公知的方法、过程、部件、电路和网络未被详细描述以免不必要地模糊实施例的方面。